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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82705. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82705
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82706. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82706
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82707. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82707
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82708. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82708
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82709. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82709
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82710. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82710
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82711. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82711
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82712. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82712
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82713. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82713
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82714. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82714
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82715. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82715
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82716. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82716
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82717. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82717
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82718. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82718
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82719. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82719
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82720. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82720
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82721. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82721
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82722. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82722
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82723. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82723
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82724. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82724
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82725. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82725
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82726. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82726
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82727. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82727
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82728. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82728
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82729. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82729
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82730. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82730
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82731. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82731
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82732. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82732
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82733. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82733
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82734. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82734
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド　　広げてピント.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82735. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82735
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド　　絞ってピント.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82736. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82736
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82737. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82737
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82738. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82738
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82739. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82739
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82740. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82740
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82741. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82741
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82742. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82742
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83829. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83829
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α. 日付元記載「1992/5/1」.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83830. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83830
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83831. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83831
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83832. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83832
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83833. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83833
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83834. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83834
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83835. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83835
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　（4）.

(備考)α.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83836. Au, JMTR, 120℃, ED., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83836
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83837. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83837
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83838. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83838
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83839. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83839
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-83840. Au, JMTR, 120℃., 1992/5/1.

 アイテム
資料番号: O-83840
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992/5/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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