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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84491. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84491
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84492. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84492
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84493. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84493
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84494. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84494
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84495. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84495
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84496. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84496
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84497. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84497
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84498. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84498
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84499. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84499
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84500. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84500
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　上を撮った傾き.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84501. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84501
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84502. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84502
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　（0,0）の時のdiff.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84503. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84503
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84504. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84504
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84505. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84505
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84506. Ni, A154, JMTRcycle-II, A, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84506
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A154. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)有るさ前のgrainも同じ厚さ勾配.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84507. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 8K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84507
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K. (反射ベクトルg)111.

(備考)α　edge　boundary.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84508. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84508
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)111.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84509. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84509
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)111.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84510. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84510
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84511. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84511
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84512. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84512
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84513. Cu-0.05Ge, T282, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84513
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)T282. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)200.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84514. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84514
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　＋2赤0-3（180）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84515. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84515
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84516. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84516
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84517. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84517
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84518. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84518
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84519. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84519
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84520. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84520
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84521. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84521
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)厚い所　ボイド.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84522. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84522
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-6赤0-3（100）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84523. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84523
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84524. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84524
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84525. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84525
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)別のgrain　dislocation　grain.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84526. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84526
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84527. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84527
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84528. Ni, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84528
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84529. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84529
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84530. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84530
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84531. Ni, JMTRcycle-II, B, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84531
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84532. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84532
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84533. Ni, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84533
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84534. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 8K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84534
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84535. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 8K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84535
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84536. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 5.3K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84536
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

(備考)α　-17赤3-6（60）同grain.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84537. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84537
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84538. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84538
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84539. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84539
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84540. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84540
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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