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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86364. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86364
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)小ループ.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86365. JLF-4, JMTR, 200℃, BF, 100K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86365
範囲と内容

(試料)JLF-4. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86365. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86365
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86366. JLF-4, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86366
範囲と内容

(試料)JLF-4. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86366. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86366
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86367. JLF-4, JMTR, 200℃, BF, 17K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86367
範囲と内容

(試料)JLF-4. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)17K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86367. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86367
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)G.B.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86368. JLF-4, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86368
範囲と内容

(試料)JLF-4. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86368. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86368
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86369. JLF-4, JMTR, 200℃, DF, 17K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86369
範囲と内容

(試料)JLF-4. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)17K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86369. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 52K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86369
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)G.B.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86370. JLF-4, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86370
範囲と内容

(試料)JLF-4. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86370. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, ED., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86370
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86371. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 10K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86371
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)日付元記載「90. 11. 14」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86371. NI-0.05Si, JMTR, 200℃, DF, 11K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86371
範囲と内容

(試料)NI-0.05Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「1992. 10. 23」. 実験者元記載「浜田」.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86372. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86372
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86372. NI-0.05Si, JMTR, 200℃, DF, 52K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86372
範囲と内容

(試料)NI-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86373. JLF-5, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86373
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86373. NI-0.05Si, JMTR, 200℃, DF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86373
範囲と内容

(試料)NI-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86374. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86374
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86374. NI-0.05Si, JMTR, 200℃, DF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86374
範囲と内容

(試料)NI-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86375. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86375
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86375. NI-0.05Si, JMTR, 200℃, DF, 52K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86375
範囲と内容

(試料)NI-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86376. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 100K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86376
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86376. NI-0.05Si, JMTR, 200℃, DF, 52K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86376
範囲と内容

(試料)NI-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)G.B.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86377. JLF-5, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86377
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86377. NI-0.05Si, JMTR, 200℃, ED., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86377
範囲と内容

(試料)NI-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86378. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86378
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86379. JLF-5, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86379
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86380. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86380
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (反射ベクトルg)転位.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86381. JLF-5, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86381
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86382. JLF-5, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86382
範囲と内容

(試料)JLF-5. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86383. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 10K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86383
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)　-8.5ステレオ. 日付元記載「90. 11. 14」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86384. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 10K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86384
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)0ステレオ.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86385. JLF-6, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86385
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86386. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86386
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86387. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86387
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86388. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86388
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86389. JLF-6, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86389
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86390. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86390
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86391. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86391
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86392. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 50K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86392
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86393. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 100K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86393
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86394. JLF-6, JMTR, 200℃, BF, 100K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86394
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86395. JLF-6, JMTR, 200℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86395
範囲と内容

(試料)JLF-6. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86396. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86396
範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)　0ステレオ. 日付元記載「90. 11. 14」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86397. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86397
範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)　-7ステレオ.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86398. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86398
範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86399. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86399
範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86400. JLF-1, JMTR controlled, 400℃, BF, 25K., [19]90. 11. 14.

 アイテム
資料番号: O-86400
範囲と内容

(試料)JLF-1. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [19]90. 11. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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