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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13602. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13602
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13603. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13603
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13604. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13604
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13605. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13605
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13606. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13606
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13607. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13607
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13608. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13608
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13609. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13609
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13610. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13610
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13611. Cu-0.05Sn, G492, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13611
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G492. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13612. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13612
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13613. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13613
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13614. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13614
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13615. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13615
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13616. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13616
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13617. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13617
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13618. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13618
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13619. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13619
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13620. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13620
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13621. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13621
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13622. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13622
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13623. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13623
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13624. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13624
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13625. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13625
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13626. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13626
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13627. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13627
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13628. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13628
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13629. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13629
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13630. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13630
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13631. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13631
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13632. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13632
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13633. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13633
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13634. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13634
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13635. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13635
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13636. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13636
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13637. Cu-0.05Ge, G042, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13637
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G042. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13638. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13638
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13639. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13639
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13640. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13640
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13641. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13641
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13642. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13642
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13643. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13643
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13644. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13644
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13645. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13645
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13646. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13646
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13647. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13647
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13648. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13648
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13649. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13649
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13650. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13650
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13651. Cu-0.05Ni, G192, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13651
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G192. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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