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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86552. Ni-16Cu, JMTR uncontrolled, 414℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86552
範囲と内容

(試料)Ni-16Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)414℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)C　BとCのboundaryでC側にはloopsがあるがB側には少ない.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86553. Ni-17Cu, JMTR uncontrolled, 415℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86553
範囲と内容

(試料)Ni-17Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)415℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)C　AとCの間のC側のloopsは通常の厚さにともなうループと思われる.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86554. Ni-18Cu, JMTR uncontrolled, 416℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86554
範囲と内容

(試料)Ni-18Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)416℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86555. Ni-19Cu, JMTR uncontrolled, 417℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86555
範囲と内容

(試料)Ni-19Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)417℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86556. Ni-20Cu, JMTR uncontrolled, 418℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86556
範囲と内容

(試料)Ni-20Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)418℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)別のgrain.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86557. Ni-21Cu, JMTR uncontrolled, 419℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86557
範囲と内容

(試料)Ni-21Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)419℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)別のgrain.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86558. Ni-22Cu, JMTR uncontrolled, 420℃., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86558
範囲と内容

(試料)Ni-22Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)420℃.

(備考)56と同じ視野.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86559. Ni-23Cu, JMTR uncontrolled, 421℃, ED., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86559
範囲と内容

(試料)Ni-23Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)421℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86560. Ni-24Cu, JMTR uncontrolled, 422℃., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86560
範囲と内容

(試料)Ni-24Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)422℃.

(備考)57と同じ視野.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86561. Ni-25Cu, JMTR uncontrolled, 423℃, ED., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86561
範囲と内容

(試料)Ni-25Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)423℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　-3.5赤6-9（140）.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86562. Ni-26Cu, JMTR uncontrolled, 424℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86562
範囲と内容

(試料)Ni-26Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)424℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)　＋1赤15-18（120）.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86563. Ni-27Cu, JMTR uncontrolled, 425℃, ED., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86563
範囲と内容

(試料)Ni-27Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)425℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86564. Ni-28Cu, JMTR uncontrolled, 426℃, BF, 42K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86564
範囲と内容

(試料)Ni-28Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)426℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

(備考)ループがGBに向かって曲がっている.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86565. Ni-29Cu, JMTR uncontrolled, 427℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86565
範囲と内容

(試料)Ni-29Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)427℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87903. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87903
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「1991. 2. 4.」.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87904. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87904
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87905. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, ED., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87905
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87906. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87906
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87907. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87907
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87908. Ni, A863, JMTR controlled, 200℃, 21K., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87908
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A863. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)21K.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87909. Ni, A863, JMTR controlled, 200℃., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87909
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A863. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87910. Ni-2Ge, A951, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87910
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87911. Ni-2Ge, A951, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87911
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87912. Ni-2Ge, A951, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87912
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87913. Ni-2Ge, A951, JMTR controlled, 200℃, BF, 8K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87913
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87914. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87914
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87915. Ni, A964, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87915
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A964. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87916. Ni, A964, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87916
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A964. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87917. Ni-2Sn, A984, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87917
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87918. Ni-2Sn, A984, JMTR controlled, 200℃, BF., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87918
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87919. Ni-2Sn, A984, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87919
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87920. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, 42K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87920
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87921. Au, H03, JMTR controlled, 200℃., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87921
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87922. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87922
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87923. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, 80K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87923
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87924. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87924
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87925. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87925
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87926. Au, H03, JMTR controlled, 200℃., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87926
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87927. Au, H03, JMTR controlled, 200℃., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87927
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0　4.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87928. Au, H03, JMTR controlled, 200℃., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87928
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0　3.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87929. Au, H03, JMTR controlled, 200℃., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87929
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0　3.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87930. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87930
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87931. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87931
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　2.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87932. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87932
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　3.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87933. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, 100K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87933
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　4.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87934. Au, H03, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87934
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H03. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87935. Au, H04, JMTR uncontrolled, 200℃., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87935
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87936. Au, H04, JMTR uncontrolled, 200℃., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87936
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H04. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87937. Au, H04, JMTR uncontrolled, 200℃., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87937
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H04. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87938. Au, H04, JMTR uncontrolled, 200℃., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87938
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)H04. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0　3.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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