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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88239. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88240. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88241. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88242. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88242
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88243. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88243
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88244. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88244
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88245. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88245
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88246. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88246
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88247. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88247
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88248. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88248
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88249. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88249
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88250. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 4K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88250
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)4K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88251. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88251
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88252. Ni, JMTR　controlled, 300℃, 01, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88252
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88253. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88253
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-9,10.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88254. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88254
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88255. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88255
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88256. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88256
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88257. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88257
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88258. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88258
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88259. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88259
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88260. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88260
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88261. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88261
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88262. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88262
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88263. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88263
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-8赤9（0）.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88264. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88264
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88265. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88265
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88266. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88266
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88267. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88267
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88268. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88268
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88269. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88269
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88270. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88270
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88271. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88271
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88272. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88272
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88273. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88273
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88274. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88274
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88275. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88275
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88276. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88276
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88277. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88277
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88278. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88278
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88279. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88279
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88280. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88280
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Grain　boundary.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88281. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88281
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88282. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88282
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88283. Ni-2Ge, A954, JMTR　uncontrolled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88283
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A954. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88284. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88284
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)grain　boundary.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88285. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88285
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88286. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88286
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88287. Ni-2Si, A893, JMTR　controlled, 200℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88287
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR　controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88288. Ni, A861, JMTR, 120℃, DF, 52K., 1991. 2. 6.

 アイテム
資料番号: O-88288
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)日付元記載「1991. 2. 6.」.

日付: 1991. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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