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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88439. Ni, A861, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88439
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　C.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88440. Ni, A861, JMTR　, 120℃, BF, 31K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88440
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α　A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88441. Ni, A861, JMTR　, 120℃, BF, 31K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88441
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88442. Ni, A861, JMTR　, 120℃, BF, 31K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88442
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α　C.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88443. Ni, A861, JMTR　, 120℃, DF, 21K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88443
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　＋.08黒1（280）.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88444. Ni, A861, JMTR　, 120℃, DF, 21K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88444
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88445. Ni, A861, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88445
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88446. Ni, A861, JMTR　, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88446
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88447. Ni, A861, JMTR　, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88447
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88448. Ni, A861, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88448
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋8.0黒4（80）.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88449. Ni, A861, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88449
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88450. Ni, A861, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88451. Ni, A861, JMTR　, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88452. Ni, A861, JMTR　, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88453. Ni, A861, JMTR　, 120℃, DF, 21K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88454. Ni, A861, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A861. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88455. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88455
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)EM polish　α　-12.5赤15（240）A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88456. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88456
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88457. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88457
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88458. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88458
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88459. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88459
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88460. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88460
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　just.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88461. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88461
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　over　1.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88462. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88462
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　over　2.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88463. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88463
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　under　1.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88464. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88464
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　under　2.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88465. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88465
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88466. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88466
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88467. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88467
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-19.2赤7（100）A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88468. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88468
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88469. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88469
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88470. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88470
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　A　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88471. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88471
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88472. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88472
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　A　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88473. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88473
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88474. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88474
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　C　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88475. Ni-2Si, JMTR　, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88475
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃.

(備考)β　C　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88476. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88476
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　C　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88477. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88477
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　C　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88478. Au, JMTR improved　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88478
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D3.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88479. Au, JMTR improved　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88479
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88480. Au, JMTR improved　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88480
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88481. Au, JMTR improved　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88481
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88482. Au, JMTR improved　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88482
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88483. Au, JMTR improved　, 120℃, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88483
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88484. Au, JMTR improved　, 120℃, BF, 25K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88484
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88485. Au, JMTR improved　, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88485
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88486. Au, JMTR improved　, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88486
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88487. Au, JMTR improved　, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88487
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88488. Au, JMTR improved　, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88488
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR improved　. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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