メインコンテンツへスキップ

北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

 団体

関係者用

42504 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88539. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88539
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88540. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88540
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88541. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88541
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88542. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88543. Ni, A982, JMTR , 150℃., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88544. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-4.0黒18（80）A.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88545. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ベター　B.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88546. Ni, A982, JMTR , 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88547. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88547
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　A.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88548. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88548
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88549. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)独立　All G.B.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88550. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88551. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)両方のGrainにcontrast合わせる.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88552. Ni, A982, JMTR , 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88552
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)両方のGrainにcontrast合わせる.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88553. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88553
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃-＞300℃　EM面polish　α-24赤6-9（180）.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88554. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88554
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88555. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88555
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88556. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88556
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88557. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88557
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88558. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88558
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88559. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88559
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88560. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88560
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88561. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88561
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88562. Ni-２Si, A892, 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88562
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88563. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88563
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-29　＋-0.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88564. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88564
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88565. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88565
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88566. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88566
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88567. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88567
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88568. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88568
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88569. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88569
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88570. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88570
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88571. Ni-２Si, A892, 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88571
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88572. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88572
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α位置.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88573. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88573
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88574. Ni-２Si, A892, 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88574
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88575. Ni-２Si, A892, 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88575
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88576. Ni-２Si, A892, 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88576
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88577. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88577
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃-＞300℃α　-24黒3-6（120）.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88578. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88578
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88579. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88579
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88580. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88580
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88581. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88581
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88582. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88582
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88583. Ni-２Cu, A922, 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88583
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88584. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88584
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β-29赤6-9（180）.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88585. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88585
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88586. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88586
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88587. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88587
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88588. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88588
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ