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北海道大学工学部精密工学科物理工学講座

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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14875. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14875
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14876. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14876
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14877. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14877
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14878. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14878
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14879. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14879
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14880. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14880
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14881. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14881
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14882. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14882
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14883. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14883
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14884. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14884
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14885. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14885
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14886. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14886
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14887. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14887
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14888. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14888
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14889. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14889
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14890. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14890
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14891. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14891
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14892. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14892
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14893. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14893
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14894. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14894
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14895. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14895
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14896. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14896
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14897. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14897
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Dummy β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14898. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14898
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14899. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14899
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14900. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14900
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14901. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14901
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14902. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14902
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14903. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14903
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14904. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14904
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14905. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14905
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14906. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14906
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)繰り返し照射1.2e16n/cm2, 909 0.61e16n/cm2 ほとんどいない.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14907. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14907
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14908. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14908
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14909. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14909
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14910. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14910
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14911. Ni, 908, RTNS-II, RT , ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14911
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)06-08に対応　三つはずし.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14912. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14912
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓　A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14913. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14913
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14914. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14914
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14915. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14915
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14916. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14916
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14917. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14917
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14918. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14918
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14919. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14919
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14920. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14920
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14921. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14921
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑　B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14922. Ni, 908, RTNS-II, RT , ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14922
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14923. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14923
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓　A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14924. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14924
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24471
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 23320
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 17993
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10146
ニッケル 7654
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7249
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5427
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5245
銅 4972
金 4713
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4293
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3965
銅合金 2961
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2937
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2482
ステンレス鋼 2416
ニッケル合金 2218
鉄 1903
銀 1305
鉄合金 970
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 768
バナジウム 313
ムライト 246
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 224
アルミニウム 128
ゲルマニウム 84
炭化珪素 53
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 53
ノート 40
材料試験 40
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 40
記録ノート Notebooks 40
電子顕微鏡 40
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 24
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 16

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