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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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関係者用

20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66675. ？, 20K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66675
範囲と内容

(試料)？. (条件・倍率等)20K.

(備考)＋10.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66676. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66676
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋8.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66677. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66677
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋12.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66678. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66678
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66679. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66679
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋5.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66680. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66680
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66681. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66681
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0やり直し.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66682. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66682
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋5.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66683. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66683
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋8.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66684. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66684
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋10.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66685. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66685
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋12.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66686. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66686
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋15.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66687. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66687
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋15重ねどり.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66688. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66688
範囲と内容

(試料)？.

(備考)X.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66689. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66689
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0重ねどり.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66700. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66700
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66701. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66701
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66702. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66702
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66703. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66703
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66704. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66704
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66705. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66705
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66706. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66706
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)CL82. 実験者元記載「小林」.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66706. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66706
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66707. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66707
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その1　2s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66707. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66707
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66708. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66708
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その1　1.4s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66708. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66708
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66709. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66709
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66709. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66709
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66710. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66710
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66710. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66710
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-13　an-70.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66711. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66711
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.

(備考)その2.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66711. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66711
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-13　an-70.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66712. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66712
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

(備考)その2.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66712. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66712
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-13　an-70.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66713. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66713
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

(備考)ちょっとずらした.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66713. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66713
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-13　an-70.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66714. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66714
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.

(備考)その3.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66714. V-20％Ti, Heイオン照射, BF, 50K., [1997年]6/20.

 アイテム
資料番号: L-66714
範囲と内容

(試料)V-20％Ti. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)面白そうなところ. 日付元記載「6/20」. 実験者元記載「高橋」.

日付: [1997年]6/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66715. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66715
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.

(備考)その3.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66715. V-20％Ti, Heイオン照射, BF, 50K., [1997年]6/20.

 アイテム
資料番号: L-66715
範囲と内容

(試料)V-20％Ti. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ用.

日付: [1997年]6/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66716. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66716
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

(備考)この先.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66716. V-20％Ti, Heイオン照射, DF, 50K., [1997年]6/20.

 アイテム
資料番号: L-66716
範囲と内容

(試料)V-20％Ti. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ用.

日付: [1997年]6/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66717. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66717
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

(備考)その4.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66717. V-20％Ti, Heイオン照射, BF, 50K., [1997年]6/20.

 アイテム
資料番号: L-66717
範囲と内容

(試料)V-20％Ti. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1997年]6/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66718. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66718
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その3　2s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66718. V-20％Ti, Heイオン照射, BF, 50K., [1997年]6/20.

 アイテム
資料番号: L-66718
範囲と内容

(試料)V-20％Ti. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1997年]6/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66719. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66719
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その3　1.4s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66719. V-20％Ti, Heイオン照射, ED., [1997年]6/20.

 アイテム
資料番号: L-66719
範囲と内容

(試料)V-20％Ti. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1997年]6/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66720. A-Si, DF, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66720
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)その3　11s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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