京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003
20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91744. Cu-2Ni, T54, LASREF, 7, ED., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T54. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β .
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91745. Cu-2Ni, T54, LASREF, 7, DF, 50K., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T54. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91746. Cu-2Ge, T78, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)T78. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)日付元記載「1/20」. 実験者元記載「Kiz.」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91747. Cu-2Ge, T78, LASREF, 7, BF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T78. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91748. Cu-2Ge, T78, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T78. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91749. Cu-2Ge, T78, LASREF, 7, BF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T78. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91750. Cu-2Ge, T78, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T78. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91751. Cu-2Ge, T78, LASREF, 7, BF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T78. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91752. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)日付元記載「1/20」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91753. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, BF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91754. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91755. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91756. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, BF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91757. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91758. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α +14黒18(0). 日付元記載「1/21」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91759. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91760. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, DF., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β +8黒12(20).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91761. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, BF., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91762. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, ED., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91763. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, DF., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91764. Cu-2Ge, T76, LASREF, 3, DF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T76. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)日付元記載「1/20」. 実験者元記載「Kiz.」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91765. Cu-2Ge, T76, LASREF, 3, BF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T76. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91766. Cu-2Ge, T76, LASREF, 3, DF., [1994年]1/20.
(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T76. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91767. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α -1赤6(20). 日付元記載「1/21」. 実験者元記載「Kiz.」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91768. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91769. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β -7赤6(260).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91770. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91771. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, ED, 100K., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.
(備考)失敗.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91772. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/21.
(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91773. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/20.
(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α +2黒18(80). 日付元記載「1/20」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91774. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/20.
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91775. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/20.
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β -4黒12(300).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91776. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/20.
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91777. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, ED., [1994年]1/20.
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91778. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, 100K., [1994年]1/20.
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91780. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 100., [1994年]1/22.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100.
(備考)日付元記載「1/22」. 実験者元記載「三間」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91781. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 100., [1994年]1/22.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91782. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 100., [1994年]1/22.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91783. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, DF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 1 調整. 日付元記載「1/23」. 実験者元記載「三間」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91784. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, BF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)Area 1 調整.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91785. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, DF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)A Area 2 場所違う.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91786. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, BF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)A Area 2 場所違う.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91787. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, DF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)B Area 2’ 場所違う.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91788. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, DF, 50K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)C Area 2’ 場所違う.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91789. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV 100sec, DF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV 100sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)A Area 3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91790. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV 100sec, BF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV 100sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)A Area 3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91791. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV 100sec, DF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV 100sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)B Area 3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91792. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV 10sec, DF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV 10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)A Area 4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91793. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV 10sec, BF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV 10sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)A Area 4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91794. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV 10sec, DF, 100K., [1994年]1/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV 10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)B Area 4.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
- ニッケル 3538
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
- 銅 2841
- 金 1686
- バナジウム 1634
- 銀 1529
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
- 鉄 575
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
- 鉄合金 429
- ステンレス鋼 368
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
- ノート 51
- 材料試験 51
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
- 記録ノート Notebooks 51
- 電子顕微鏡 51
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
- 珪素 5
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 1