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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84662. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84662
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-8黒9（0）.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84663. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, BF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84663
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84664. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, BF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84664
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84665. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84665
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84666. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, ED., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84666
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84667. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84667
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84668. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84668
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84669. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84669
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84670. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84670
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84671. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84671
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84672. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84672
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同じ.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84673. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84673
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同じ.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84674. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84674
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84675. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84675
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84676. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, BF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84676
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84677. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, BF, 20K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84677
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84678. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84678
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84679. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84679
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84680. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84680
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84681. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84681
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84682. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84682
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84683. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84683
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84684. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84684
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84685. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84685
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84686. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84686
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84687. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84687
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84688. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84688
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84689. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84689
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84690. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84690
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84691. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84691
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84692. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84692
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84693. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84693
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84694. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84694
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84695. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84695
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84696. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84696
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84697. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84697
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84698. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84698
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)粒界近傍. 日付元記載「12/10」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84699. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84699
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84700. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84700
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84701. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84701
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84702. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84702
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84703. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84703
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84704. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 20K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84704
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84705. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84705
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84706. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84706
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84707. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84707
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84708. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84708
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84709. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84709
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84710. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84710
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84711. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 30K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84711
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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