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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84712. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84712
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　9黒1.5（220）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84713. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84713
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84714. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84714
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84715. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84715
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84716. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾3, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84716
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾3. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84717. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84717
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　-14赤7（240）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84718. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84718
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84719. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84719
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84720. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84720
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84721. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84721
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84722. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84722
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84723. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84723
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84724. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84724
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)3本とばし.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84725. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84725
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)3本とばし.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84726. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84726
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84727. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84727
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)非点あり！Boundary近傍　.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84728. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84728
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「12/10」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84729. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84729
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84730. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84730
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84731. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84731
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84732. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84732
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84733. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84733
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84734. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84734
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84735. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84735
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84736. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84736
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　２１．８黒23（300）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84737. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84737
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84738. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84738
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84739. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84739
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84740. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84740
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84741. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84741
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　１４．８黒18（120）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84742. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84742
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84743. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84743
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84744. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84744
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84745. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84745
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A.

(備考)ミス.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84746. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84746
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84747. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84747
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　＋4黒3（70）. 日付元記載「12/11」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84748. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84748
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84749. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84749
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84750. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84750
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84751. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, ED., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84751
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84752. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84752
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84753. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84753
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84754. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84754
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋11黒6（60）.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84755. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84755
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84756. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84756
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84757. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84757
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84758. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84758
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84759. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, ED., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84759
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84760. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, ED., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84760
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84761. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84761
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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