京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94833. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94833

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94834. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94834

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94835. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94835

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋20黒6（240）.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94836. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94836

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94837. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94837

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94838. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94838

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94839. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94839

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同じgrain別視野　.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94840. Cu-2Si, H772, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF, 100K., 1994 6/18.

アイテム

資料番号: L-94840

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H772. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)同じgrain別視野　.

日付: 1994 6/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94841. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94841

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-12赤0（220）. 日付元記載「6/19」.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94842. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94842

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94843. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94843

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94844. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94844

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-15赤6（300）.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94845. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94845

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94846. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, ED., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94846

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94847. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94847

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94848. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94848

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94849. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94849

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94850. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94850

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94851. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, BF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94851

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94852. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose, DF, 50K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94852

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94853. Cu-2Sn, H782, JMTR improve, 90℃, Low dose., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94853

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H782. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Low dose.

(備考)失敗.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94854. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94854

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋27黒6（100）. 日付元記載「6/19」. 実験者元記載「Kiz」.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94855. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94855

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94856. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF, 100K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94856

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94857. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94857

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94858. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94858

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋21黒6（50）.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94859. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF, 100K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94859

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94860. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94860

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94861. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 50K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94861

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94862. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 50K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94862

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94863. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94863

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94864. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF, 100K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94864

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94865. Cu-2Si, H771, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF, 100K., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94865

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)H771. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94866. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94866

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋5黒0（160）. 日付元記載「6/19」.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94867. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94867

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94868. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94868

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94869. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94869

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94870. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94870

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94871. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94871

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94872. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94872

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋8クロ6（280）.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94873. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94873

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94874. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94874

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94875. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94875

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94876. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94876

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94877. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94877

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94878. Cu-2Ge, H451, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94878

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)H451. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別の視野.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94879. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94879

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　＋7黒12（60）. 日付元記載「6/19」.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94880. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, BF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94880

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94881. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, ED., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94881

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94882. Cu-2Sn, H781, JMTR improve, 90℃, Highdose, DF., [1994年]6/19.

アイテム

資料番号: L-94882

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H781. (照射条件)JMTR improve. (照射温度)90℃. (照射量)Highdose. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1994年]6/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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