京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84863. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84863

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84864. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84864

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84865. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84865

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84866. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84866

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84867. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, ED., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84867

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84868. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84868

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84869. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84869

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84870. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 5., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84870

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84871. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 5., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84871

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84872. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84872

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84873. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84873

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84874. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84874

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84875. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84875

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84876. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84876

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84877. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, ED., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84877

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84878. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84878

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)3rd　obs　Area　22. 日付元記載「12/12」.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84879. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84879

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　22.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84880. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84880

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　22.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84881. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84881

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84882. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84882

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84883. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84883

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84884. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84884

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84885. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84885

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　23.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84886. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84886

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　24.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84887. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84887

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　25.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84888. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84888

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　25.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84889. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84889

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　25.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84890. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84890

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　26.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84891. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84891

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　26.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84892. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84892

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　26.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84893. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84893

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　27.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84894. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84894

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　27.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84895. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84895

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　28.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84896. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84896

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　28.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84897. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., [1992年]12/12.

アイテム

資料番号: L-84897

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area　28.

日付: [1992年]12/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84898. V, JMTR88Mクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84898

範囲と内容

(試料)V. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)加工. 日付元記載「12/13」.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84899. V, JMTR88Mクラッド, BF, 59K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84899

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)59K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84900. V, JMTR88Mクラッド, ED., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84900

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84901. V, JMTR88Mクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84901

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84902. V, JMTR88Mクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84902

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84903. V, JMTR88Mクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84903

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84904. V, JMTR88Mクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84904

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84905. V, JMTR88Mクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84905

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84906. V, JMTR88Mクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84906

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84907. V, JMTR88Mクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84907

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTR88Mクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84908. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84908

範囲と内容

(試料)V. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84909. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84909

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84910. V, JMTRimp88M, BF, 150K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84910

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84911. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84911

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84912. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84912

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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