京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84913. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84913

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84914. V, JMTRimp88M, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84914

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRimp88M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84915. V, JMTRクラッド, BF, 30K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84915

範囲と内容

(試料)V. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)焼鈍. 日付元記載「12/13」.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84916. V, JMTRクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84916

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84917. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84917

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84918. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84918

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　＋2黒5　α.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84919. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84919

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　＋4黒1　β.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84920. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84920

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　＋5赤1　γ.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84921. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84921

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84922. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84922

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84923. V, JMTRクラッド, BF, 50K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84923

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84924. V, JMTRクラッド, BF, 150K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84924

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K.

(備考)粒界.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84925. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84925

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84926. V, JMTRクラッド, BF, 20K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84926

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84927. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84927

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84928. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84928

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84929. V, JMTRクラッド, BF, 73K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84929

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)73K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84930. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84930

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84931. V, JMTRクラッド, BF, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84931

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84932. V, JMTRクラッド, ED., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84932

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84935. V　, JMTRconv, 400℃, 150K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84935

範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)同じところ. 日付元記載「12/13」.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84936. V　, JMTRconv, 400℃, 150K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84936

範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同じところ　ボイド.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84937. V　, JMTRconv, 400℃, 150K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84937

範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84938. V　, JMTRconv, 400℃, 270K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84938

範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)270K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84939. V　, JMTRconv, 400℃, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84939

範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84940. V　, JMTRconv, 400℃, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84940

範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84941. V　, JMTRconv, 400℃, 10K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84941

範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)10K.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84942. V　, JMTRconv, 400℃, 100K., [1992年]12/13.

アイテム

資料番号: L-84942

範囲と内容

(試料)V　. (照射条件)JMTRconv. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84943. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84943

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　＋22赤0（20）. 日付元記載「12/14」.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84944. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84944

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84945. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84945

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84946. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84946

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84947. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84947

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84948. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84948

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84949. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84949

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84950. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84950

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84951. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, ED., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84951

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84952. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84952

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　＋18赤7（120）.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84953. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84953

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84954. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84954

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84955. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84955

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84956. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84956

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84957. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84957

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84958. Cu-2Sn, T332, サイクルII-B., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84958

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)T332. (照射条件)サイクルII-B.

(備考)おくった.

日付: [1992年]12/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84959., [1992年]12/14.

アイテム

資料番号: L-84959

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1992年]12/14.