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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95552. Au, He ion照射2MeV., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95552
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV.

(備考)X. 日付元記載「8/1」. 実験者元記載「霜島」.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95553. Au, He ion照射2MeV., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95553
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV.

(備考)X.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95554. Au, He ion照射2MeV., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95554
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV.

(備考)X.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95555. Au, He ion照射2MeV, 200sec, DF, 50K., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95555
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (照射量)200sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　30.8黒0（140９.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95556. Au, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95556
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95557. Au, He ion照射2MeV, BF, 100K., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95557
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95558. Au, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95558
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95559. Au, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95559
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95560. Au, He ion照射2MeV, ED., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95560
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95561. Au, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95561
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　37.5黒0（200）.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95562. Au, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95562
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95563. Au, He ion照射2MeV, BF, 100K., [1994年]8/1.

 アイテム
資料番号: L-95563
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1994年]8/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95564. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95564
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

(備考)8/2 irr　95575までMapとtrying. 日付元記載「8/4」. 実験者元記載「下村」.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95565. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95565
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95566. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95566
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95567. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95567
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95568. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95568
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95569. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95569
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95570. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95570
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95571. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95571
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95572. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95572
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95573. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95573
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95574. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95574
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95575. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95575
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95576. Fe, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95576
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　forcus.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95577. Fe, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95577
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Under　fine　small　-3.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95578. Fe, He ion照射2MeV, ED., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95578
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95579. Fe, He ion照射2MeV., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95579
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV.

(備考)Miss.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95580. Fe, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95580
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95581. Fe, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95581
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Under.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95582. Fe, He ion照射2MeV, ED., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95582
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Miss.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95583. Fe, He ion照射2MeV, ED., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95583
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95584. Fe, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95584
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95585. Fe, He ion照射2MeV, ED., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95585
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95586. Fe, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95586
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95587. Fe, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95587
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)Under　fine大-1.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95588. Fe, He ion照射2MeV, ED., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95588
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Miss.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95589. Fe, He ion照射2MeV, ED., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95589
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95590. Fe, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95590
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95591. Fe, He ion照射2MeV, BF, 100K., [1994年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-95591
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95592. Fe, He ion照射2MeV, ED., [1994年]8/4.

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資料番号: L-95592
範囲と内容

(試料)Fe. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95593. V, He ion照射2MeV, BF, 100K., [1994年]8/6.

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資料番号: L-95593
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「8/6」. 実験者元記載「井関 河内」.

日付: [1994年]8/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95594. V, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/6.

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資料番号: L-95594
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]8/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95595. V, He ion照射2MeV, ED., [1994年]8/6.

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資料番号: L-95595
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]8/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95596. V, He ion照射2MeV, BF, 100K., [1994年]8/6.

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資料番号: L-95596
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]8/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95597. V, He ion照射2MeV, DF, 100K., [1994年]8/6.

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資料番号: L-95597
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]8/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95598. V, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年]8/6.

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資料番号: L-95598
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)撮り直し.

日付: [1994年]8/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95599. V, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年]8/6.

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資料番号: L-95599
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]8/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95600. V, He ion照射2MeV, BF, 50K., [1994年]8/6.

 アイテム
資料番号: L-95600
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]8/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-95601. V, He ion照射2MeV, DF, 50K., [1994年]8/6.

 アイテム
資料番号: L-95601
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)He ion照射2MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)GB近く.

日付: [1994年]8/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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