京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97518. Si, 100K., [1994年]11/13.

アイテム

資料番号: L-97518

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97519. Si, 100K., [1994年]11/13.

アイテム

資料番号: L-97519

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97520. Si, 100K., [1994年]11/13.

アイテム

資料番号: L-97520

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年]11/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97521. Si, 100K., [1994年]11/13.

アイテム

資料番号: L-97521

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年]11/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97522. Si, 100K., [1994年]11/13.

アイテム

資料番号: L-97522

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]11/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97523. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97523

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x8h.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97524. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97524

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97525. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97525

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97526. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97526

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97527. Si., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97527

範囲と内容

(試料)Si. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97528. Si., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97528

範囲と内容

(試料)Si.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97529. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97529

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97530. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97530

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97531. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97531

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97532. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97532

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97533. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97533

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)Heat treated Si　600℃x48h∔900℃x4h∔1100℃x4h.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97534. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97534

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97535. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97535

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97536. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97536

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97537. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97537

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97538. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97538

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97539. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97539

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97540. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97540

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97541. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97541

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97542. Si, 100K., [1994年11月13日.]

アイテム

資料番号: L-97542

範囲と内容

(試料)Si. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1994年11月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97543. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97543

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　13B5＋220/360　area　A. 日付元記載「11月14日」. 実験者元記載「荒河, 松本」.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97544. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97544

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　area　B　.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97545. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97545

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　area　C　.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97546. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97546

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　area　D　.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97547. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97547

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　dummy.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97548. Ni, ED., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97548

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97549. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97549

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　6.5B4＋160/360 area　A　.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97550. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97550

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　area　B　.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97551. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97551

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　area　C　.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97552. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97552

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　area　D　.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97553. Ni, DF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97553

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　dummy.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97554. Ni, ED., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97554

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97555. Ni, BF, 50K., [1994年]11月14日.

アイテム

資料番号: L-97555

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)はじめのくぼみ.

日付: [1994年]11月14日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97556. ？, 350℃, BF, 20K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97556

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D3　α　-10.5赤（0-6、160）. 日付元記載「11/15」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97557. ？, 350℃, BF, 50K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97557

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97558. ？, 350℃, BF, 50K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97558

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97559. ？, 350℃, BD, 100K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97559

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97560. ？, 350℃, DF, 50K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97560

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97561. ？, 350℃, DF, 50K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97561

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97562. ？, 350℃, DF, 100K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97562

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97563. ？, 350℃, ED., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97563

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97564. ？, 350℃, BF, 50K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97564

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　-5.0黒（0-6、230）.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97565. ？, 350℃, BF, 50K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97565

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97566. ？, 350℃, BF, 100K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97566

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-97567. ？, 350℃, DF, 50K., [1994年]11/15.

アイテム

資料番号: L-97567

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]11/15.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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