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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98486. Ni , JMTR clid, DF, 100K., [1994年12月16日.]

 アイテム
資料番号: L-98486
範囲と内容

(試料)Ni . (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR clid. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)RT.

日付: [1994年12月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98487. Ni , JMTR clid, BF, 100K., [1994年12月16日.]

 アイテム
資料番号: L-98487
範囲と内容

(試料)Ni . (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR clid. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年12月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98488. Ni , JMTR clid, BF, 20K., [1994年12月16日.]

 アイテム
資料番号: L-98488
範囲と内容

(試料)Ni . (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR clid. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1994年12月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98489. Ni , JMTR clid, BF, 20K., [1994年12月16日.]

 アイテム
資料番号: L-98489
範囲と内容

(試料)Ni . (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR clid. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1994年12月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98490. Ni , JMTR clid., [1994年12月16日.]

 アイテム
資料番号: L-98490
範囲と内容

(試料)Ni . (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR clid.

日付: [1994年12月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98493. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98493
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞＞0.

(備考)Isochronal ann. At 400℃, α. 日付元記載「12/17」.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98494. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98494
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98495. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98495
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98496. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98496
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98497. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98497
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)23分 β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98498. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98498
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)30分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98499. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98499
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)45分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98500. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98500
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)60分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98501. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98501
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)90分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98502. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98502
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)120分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98503. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98503
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)150分　β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98504. Ni., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98504
範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)150分 β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98505. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98505
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98506. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98506
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98507. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98507
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98508. Ni, DF, 100K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98508
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98509. Ni, DF, 50K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98509
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98511. Cu-0.05Ni, D222, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98511
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)D222. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)多分割　方位依存性. 日付元記載「12/17」. 実験者元記載「河内」.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98512. Cu-0.05Ni, D222, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98512
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)D222. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98513. Cu-0.05Ni, D222, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98513
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)D222. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 211. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98514. Cu-0.05Ni, D222, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98514
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)D222. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98515. Cu-0.3Si, D227, 200℃, BF, 20K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98515
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)near 211. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)多分割.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98516. Cu-0.3Si, D227, 200℃, BF., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98516
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98517. Cu-0.3Si, D227, 200℃, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98517
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)30K.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98518. Cu-0.3Si, D227, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98518
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98519. Cu-0.3Si, D227, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98519
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98520. Cu-0.3Si, D227, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98520
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98521. Cu-0.3Si, D227, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98521
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 100.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98522. Cu-0.3Si, D227, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98522
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)D227. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98523. Cu-0.05Sn, D225, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98523
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)D225. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)near 211. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98524. Cu-0.05Sn, D225, 200℃, ED., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98524
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)D225. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98525. Cu-0.05Sn, D225, 200℃, BF, 30K., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98525
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)D225. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ミス.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98526. Cu-0.05Sn, D225, 200℃, Dummy., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98526
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)D225. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)Dummy.

(備考)多分割　試料厚すぎる.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98527. Cu, Cu+60keV, map用, 100., [1994年]12/17.

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資料番号: L-98527
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)100.

(備考)12.16irr. 日付元記載「12/17」. 実験者元記載「加藤, 木塚」.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98528. Cu, Cu+60keV, map用, 100., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98528
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)100.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98529. Cu, Cu+60keV, map用, 100., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98529
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)100.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98530. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98530
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98531. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98531
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98532. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98532
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98533. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98533
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98534. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98534
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98535. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98535
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98536. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98536
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98537. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98537
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-98538. Cu, Cu+60keV, map用, 1000., [1994年]12/17.

 アイテム
資料番号: L-98538
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cu＋60keV. (Dark, Bright, ED)map用. (条件・倍率等)1000.

日付: [1994年]12/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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