メインコンテンツへスキップ

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

 団体

関係者用

20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100111. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年]1月25, 26日.

 アイテム
資料番号: L-100111
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)α　-2黒6（280）. 日付元記載「1月25, 26日」.

日付: [1995年]1月25, 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100112. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年]1月25, 26日.

 アイテム
資料番号: L-100112
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5-Δ.

日付: [1995年]1月25, 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100113. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年]1月25, 26日.

 アイテム
資料番号: L-100113
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1995年]1月25, 26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100116. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100116
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)α　0, 黒15（150）. 日付元記載「26日」.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100117. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100117
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)α.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100118. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 50K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100118
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)α.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100119. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, ED., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100119
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100120. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF, 50K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100120
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)α.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100121. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF, 100K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100121
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)α.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100122. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100122
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)β　＋1黒12（120）　.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100123. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100123
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)β　.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100124. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 50K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100124
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)β　.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100125. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, ED., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100125
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100126. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100126
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)γ　＋3黒9（40）.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100127. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100127
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100128. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 50K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100128
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5-Δ.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100129. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, ED., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100129
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100130. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF, 50K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100130
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100131. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF, 100K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100131
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100132. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 50K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100132
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100133. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

 アイテム
資料番号: L-100133
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年1月]26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100134. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100134
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)α0、黒6（160）.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100135. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100135
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5-Δ.

(備考)α.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100136. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, ED., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100136
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100137. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, BF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100137
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100138. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100138
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)β　＋2黒0（60）.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100139. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100139
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5-Δ.

(備考)β.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100140. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, ED., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100140
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100141. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100141
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0＋Δ.

(備考)β.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100142. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, BF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100142
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100143. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100143
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100144. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100144
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)隣視野.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100145. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, 低倍., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100145
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (条件・倍率等)低倍.

(備考)失敗.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100146. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, 低倍., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100146
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (条件・倍率等)低倍.

(備考)失敗.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100147. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, 低倍., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100147
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (条件・倍率等)低倍.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100150. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, BF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100150
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「1月26日」.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100151. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, BF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100151
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100152. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100152
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100153. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100153
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100154. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100154
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100155. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100155
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100156. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100156
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100157. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100157
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100158. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, BF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100158
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100159. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100159
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100160. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100160
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100161. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100161
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100162. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100162
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100163. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, ED., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100163
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100164. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100164
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ