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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100165. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100165
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100166. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100166
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100167. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100167
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100168. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100168
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100169. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100169
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100170. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, BF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100170
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100171. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, ED., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100171
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100172. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100172
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100173. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100173
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100174. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100174
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100175. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100175
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100178. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100178
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)1000secのステレオ位置. 42見開き目に日付元記載「1月26日」.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100179. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100179
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)α　-20赤3（230）.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100180. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100180
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0＋Δ.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100181. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100181
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100182. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, ED., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100182
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100183. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100183
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100184. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100184
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100185. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100185
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)β　-23赤0（160９.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100186. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100186
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0-Δ.

(備考)β.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100187. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100187
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0-Δ.

(備考)β.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100188. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, ED., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100188
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100189. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100189
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)β.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100190. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100190
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100191. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100191
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100192. V, Cuイオン照射120keV, 300sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100192
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)α　0赤0（340）300secのステレオ位置.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100193. V, Cuイオン照射120keV, 300sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100193
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100194. V, Cuイオン照射120keV, 300sec, ED., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100194
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100195. V, Cuイオン照射120keV, 300sec, BF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100195
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100196. V, Cuイオン照射120keV, 300sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100196
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)β　＋3赤3（220）.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100197. V, Cuイオン照射120keV, 300sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100197
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100198. V, Cuイオン照射120keV, 300sec, BF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100198
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100199. V, Cuイオン照射120keV, 300sec, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100199
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100200. V, Cuイオン照射120keV, 100sec？, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100200
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec？. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　-16赤3（140）100secのステレオ位置ではなかった.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100201. V, Cuイオン照射120keV, 100sec？, DF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100201
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec？. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100202. V, Cuイオン照射120keV, 100sec？, ED., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100202
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec？. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100203. V, Cuイオン照射120keV, 100sec？, BF., [1995年]1月26日.

 アイテム
資料番号: L-100203
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec？. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1995年]1月26日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100204. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100204
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　-16赤3（220９.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100205. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100205
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100206. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100206
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100207. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, BF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100207
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100208. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100208
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　-20赤0（60）.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100209. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100209
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100210. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, BF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100210
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100211. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100211
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100212. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, BF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100212
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100213. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, BF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100213
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100214. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, DF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100214
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100215. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, BF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100215
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100216. V, Cuイオン照射120keV, 100sec, BF., [1995年1月26日.]

 アイテム
資料番号: L-100216
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)100sec. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年1月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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