京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100267. AlPdMn, APM60　F2., [1995年1月31日.]

アイテム

資料番号: L-100267

範囲と内容

(試料)AlPdMn. (試料番号)APM60　F2.

日付: [1995年1月31日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100268. AlPdMn, APM60　F2., [1995年1月31日.]

アイテム

資料番号: L-100268

範囲と内容

(試料)AlPdMn. (試料番号)APM60　F2.

日付: [1995年1月31日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100269. AlPdMn, APM60　F2., [1995年1月31日.]

アイテム

資料番号: L-100269

範囲と内容

(試料)AlPdMn. (試料番号)APM60　F2.

日付: [1995年1月31日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100270. AlPdMn, APM60　F2., [1995年1月31日.]

アイテム

資料番号: L-100270

範囲と内容

(試料)AlPdMn. (試料番号)APM60　F2.

日付: [1995年1月31日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100271. AlPdMn, APM60　F2., [1995年1月31日.]

アイテム

資料番号: L-100271

範囲と内容

(試料)AlPdMn. (試料番号)APM60　F2.

日付: [1995年1月31日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100272. AlPdMn, APM60　F2., [1995年1月31日.]

アイテム

資料番号: L-100272

範囲と内容

(試料)AlPdMn. (試料番号)APM60　F2.

日付: [1995年1月31日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100273. V, Heイオン, 300sec, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100273

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)うすい. 日付元記載「2/1」. 実験者元記載「井関」.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100274. V, Heイオン, 300sec, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100274

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)うすい.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100275. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100275

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)うすい.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100276. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100276

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100277. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100277

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100278. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100278

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内部.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100279. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100279

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dot.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100280. V, Heイオン, 300sec, BF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100280

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dot　試料きたない厚いところへ場所変えた.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100281. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100281

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100282. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100282

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100283. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100283

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100284. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100284

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100285. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100285

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100286. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100286

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100287. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100287

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100288. V, Heイオン, 300sec, BF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100288

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100289. V, Heイオン, 300sec, ED., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100289

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100290. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100290

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)dot少し.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100291. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100291

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100292. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100292

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別な場所.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100293. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100293

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別な場所.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100294. V, Heイオン, 300sec, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100294

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100295. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100295

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100296. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100296

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100297. V, Heイオン, 300sec, BF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100297

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ用.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100298. V, Heイオン, 300sec, DF, 50K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100298

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)もう1枚（ダミー）.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100299. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100299

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)Before　e-　irr　Area A ④α　下6.3赤20（80）. 日付元記載「2/1」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100300. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100300

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100301. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, ED., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100301

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100302. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100302

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100303. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100303

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④α.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100304. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100304

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)④β下4.5　13（200）.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100305. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100305

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100306. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, ED., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100306

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100307. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100307

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100308. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100308

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)④β.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100309. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100309

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100310. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100310

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100311. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100311

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100312. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100312

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)③β.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100313. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100313

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100314. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100314

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100315. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100315

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100316. Ni, A796, RTNS-II, 150℃, BF, 7.3K., [1995年]2/1.

アイテム

資料番号: L-100316

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.3K.

日付: [1995年]2/1.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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