京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100423. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100423

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)Area　A　α. 日付元記載「2/4」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100424. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100424

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100425. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100425

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100426. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100426

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100427. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100427

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100428. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100428

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100429. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100429

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100430. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100430

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100431. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100431

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100432. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100432

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100433. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100433

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100434. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100434

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100435. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100435

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100436. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100436

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)Area B　β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100437. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100437

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100438. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100438

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100439. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100439

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100440. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100440

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100441. Ni, A796, RTNS-II+e-irr, 150℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100441

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A796. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100442. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100442

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α＋22　B9＋180. 日付元記載「2/4」. 実験者元記載「前野, 井関」.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100443. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100443

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100444. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100444

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100445. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100445

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100446. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100446

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100447. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100447

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100448. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100448

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100449. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100449

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100450. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100450

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100451. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100451

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100452. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100452

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100453. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100453

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100454. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100454

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100455. Ni, Heイオン照射, 200℃, ED., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100455

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100456. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100456

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　一部終了.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100457. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100457

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100458. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100458

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100459. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100459

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100460. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100460

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100461. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100461

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100462. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100462

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　12、R0　320　100-＞200.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100463. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 37K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100463

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100464. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100464

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100465. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100465

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100466. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 37K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100466

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100467. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 37K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100467

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100468. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100468

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100469. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100469

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)100-＞220.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100470. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100470

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)100-200.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100471. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 50K., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100471

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100472. Ni, RTNS-II+e-irr, 150℃., [1995年]2/4.

アイテム

資料番号: L-100472

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II＋e-irr. (照射温度)150℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　ボツ. 日付元記載「2/4」. 実験者元記載「Y. Ogasawara.」.

日付: [1995年]2/4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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