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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85473. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85473
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85474. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85474
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85475. Cu, Cuイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85475
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order　中心.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85476. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85476
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85477. Cu, Cuイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85477
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)nomal.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85478. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85478
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)order.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85479. Cu, Cuイオン照射, ED., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85479
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Dark spotセンターの下.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85480. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85480
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85481. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85481
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85482. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85482
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)nomal.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85483. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85483
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)order.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85484. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85484
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　＋15.5黒5（40）. 日付元記載「12/26」.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85485. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85485
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85486. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85486
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85487. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85487
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85488. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85488
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85489. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85489
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85490. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85490
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85491. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85491
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85492. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85492
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85493. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, ED., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85493
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85494. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85494
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β＋9.5黒11（0）.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85495. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85495
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85496. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85496
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85497. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85497
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85498. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85498
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85499. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85499
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85500. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85500
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85501. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85501
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85502. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, ED., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85502
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85503. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85503
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)失敗.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85504. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 20K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85504
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85505. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85505
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85506. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85506
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85507. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85507
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85508. Cu-2Ni, T042, サイクルII-B, ED., [1992年]12/26.

 アイテム
資料番号: L-85508
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T042. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85509. Cu, T005, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年12月26日.]

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資料番号: L-85509
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)以下ボイド観察.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85510. Cu, T005, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年12月26日.]

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資料番号: L-85510
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85511. Cu, T005, サイクルII-B, ED., [1992年12月26日.]

 アイテム
資料番号: L-85511
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85512. Cu, T005, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年12月26日.]

 アイテム
資料番号: L-85512
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)100. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85513. Cu, T005, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年12月26日.]

 アイテム
資料番号: L-85513
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85514. Cu, T005, サイクルII-B, ED., [1992年12月26日.]

 アイテム
資料番号: L-85514
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85515. Cu, T005, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年12月26日.]

 アイテム
資料番号: L-85515
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85516. Cu, T005, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年12月26日.]

 アイテム
資料番号: L-85516
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85517. Cu, T005, サイクルII-B, ED., [1992年12月26日.]

 アイテム
資料番号: L-85517
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85518. Cu, T005, サイクルII-B, BF, 10K., [1992年12月26日.]

 アイテム
資料番号: L-85518
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T005. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85519. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85519
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)4th　obs.　α＋25.2赤17（170）. 日付元記載「12/27」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85520. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85520
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85521. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85521
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β＋15.0赤19（150）.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85522. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-85522
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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