京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003
20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101665. SUS, DF, 150K., [1995年]4/17.
(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)15万倍やや動く.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101666. SUS, DF, 100K., [1995年]4/17.
(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)100℃.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101667. SUS, DF, 150K., [1995年]4/17.
(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101668. SUS., [1995年]4/17.
(試料)SUS.
(備考)150℃->室温.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101687. JPCAM, BF, 20K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考) +1黒(0-5,210). 日付元記載「95年 4. 22」. 実験者元記載「堀木」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101688. JPCAM, DF, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101689. JPCAM, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101690. JPCAM, DF, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)11:30 327mA 3.27mV(200℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101691. JPCAM, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101692. JPCAM, DF, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)12:00 348mA 3.98mV(~250℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101693. JPCAM, DF, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101694. JPCAM, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)100K.
(備考)12:30 370mA 4.84mV(~300℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101695. JPCAM, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101696. JPCAM, DF, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)13:05 390mm 6.3mV(~350℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101697. JPCAM, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101698. JPCAM, DF, 100K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)12:43 416mA 6.792mV(~400℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101699. JPCAM, 150K., [19]95年 4. 22.
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101700. JPCAM, DF, 100K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)14:13 440mA 7.684mV(~450℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101701. JPCAM, 150K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101702. JPCAM, DF, 100K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)14:40 470mA 8.68mV(~500℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101703. JPCAM, 150K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101704. JPCAM, DF, 100K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)15:20 480mA 9.61mV(~550℃).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101705. JPCAM, 150K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (条件・倍率等)150K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101706. JPCAM, ED., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)15:55 Heater off.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101707. JPCAM, BF, 100K., [1995年4月22日.]
(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101708. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101709. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101710. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101711. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101712. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101713. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101714. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101715. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101716. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101717. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101718. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101719. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101720. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101721. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101722. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101723. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101724. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101725. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101726. Cu-0.3Ge, RTNS-II, 200℃, BF, 50K., [1995年4月22日.]
(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101727. ?, e-irr., [1995年4月22日.]
(試料)?. (照射条件)e-irr.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101728. ?, e-irr, BF, 50K., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)e-irr Before Heavy ion for Stereo Obs.調整 α(-1.0,0.00). 日付元記載「APRIL 25」. 実験者元記載「RS」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101729. ?, e-irr, 50K., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.
(備考)5分 α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101730. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)3分 α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101731. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)3分厚focus α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-101732. ?, e-irr., [1995年]APRIL 25.
(試料)?. (照射条件)e-irr.
(備考)1.5分 α.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
- ニッケル 3538
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
- 銅 2841
- 金 1686
- バナジウム 1634
- 銀 1529
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
- 鉄 575
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
- 鉄合金 429
- ステンレス鋼 368
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
- ノート 51
- 材料試験 51
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
- 記録ノート Notebooks 51
- 電子顕微鏡 51
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
- 珪素 5
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 1