京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102197. Ni, ？, 100K., [1995年]6月6日.

アイテム

資料番号: L-102197

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)？. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area D.

日付: [1995年]6月6日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102198. Ni, ？, 100K., [1995年]6月6日.

アイテム

資料番号: L-102198

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)？. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)Area E.

日付: [1995年]6月6日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102199. Ni, ？, 100K., [1995年]6月6日.

アイテム

資料番号: L-102199

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)？. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area E.

日付: [1995年]6月6日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102200. Ni, ？, 100K., [1995年]6月6日.

アイテム

資料番号: L-102200

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)？. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)Area F.

日付: [1995年]6月6日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102201. Ni, ？, 100K., [1995年]6月6日.

アイテム

資料番号: L-102201

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)？. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area F.

日付: [1995年]6月6日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102202. Ni, ？, 100K., [1995年]6月6日.

アイテム

資料番号: L-102202

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)？. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)Area H.

日付: [1995年]6月6日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102203. Ni, ？, 100K., [1995年]6月6日.

アイテム

資料番号: L-102203

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)？. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area H.

日付: [1995年]6月6日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102204. Ni, ？, 100K., [1995年]6月6日.

アイテム

資料番号: L-102204

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)？. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)Area G.

日付: [1995年]6月6日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102205. Ni, ？, 100K., [1995年]6月6日.

アイテム

資料番号: L-102205

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)？. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area G.

日付: [1995年]6月6日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102206. BF, 50K., [1995年6月6日.]

アイテム

資料番号: L-102206

範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年6月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102207. DF, 100K., [1995年6月6日.]

アイテム

資料番号: L-102207

範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年6月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102208. BF, 49K., [1995年6月6日.]

アイテム

資料番号: L-102208

範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)49K.

日付: [1995年6月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102209. BF, 50K., [1995年6月6日.]

アイテム

資料番号: L-102209

範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年6月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102210. BF, 100K., [1995年6月6日.]

アイテム

資料番号: L-102210

範囲と内容

(Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年6月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102211. SUS, BF, 20K., [1995年]6/8.

アイテム

資料番号: L-102211

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)SFT入り. 日付元記載「6/8」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1995年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102212. SUS, DF, 100K., [1995年]6/8.

アイテム

資料番号: L-102212

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝8.

日付: [1995年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102213. SUS, DF, 150K., [1995年]6/8.

アイテム

資料番号: L-102213

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝8.

日付: [1995年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102214. SUS, DF, 200K., [1995年]6/8.

アイテム

資料番号: L-102214

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝8.

日付: [1995年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102215. SUS, DF, 100K., [1995年]6/8.

アイテム

資料番号: L-102215

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝10.

日付: [1995年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102216. SUS, DF, 150K., [1995年]6/8.

アイテム

資料番号: L-102216

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝10.

日付: [1995年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102217. SUS, DF, 200K., [1995年]6/8.

アイテム

資料番号: L-102217

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝10.

日付: [1995年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102218. SUS, ED., [1995年]6/8.

アイテム

資料番号: L-102218

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)DF(s＝10).

日付: [1995年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102219. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102219

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)Ni＜-He＋（照射強度）α（R25°、R9°＋3x60/360MIN). 日付元記載「6/9」. 実験者元記載「前野」.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102220. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102220

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102221. Ni, Heイオン照射, 200nA, ED., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102221

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102222. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102222

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β（R19°、R6°＋3ｘ80/360min）.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102223. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102223

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102224. Ni, Heイオン照射, 200nA, ED., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102224

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102225. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102225

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α'（R24.5°R9°）.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102226. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102226

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α'.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102227. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102227

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α'.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102228. Ni, Heイオン照射, 200nA, ED., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102228

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102229. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 59K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102229

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K.

(備考)β'（R21.5　R6＋3x220/360).

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102230. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102230

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β'.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102231. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102231

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β'.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102232. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102232

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)失敗.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102233. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102233

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102234. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102234

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102235. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102235

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102236. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102236

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥（R39.5°B9＋3x300/360).

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102237. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102237

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102238. Ni, Heイオン照射, 100nA, ED., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102238

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102239. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102239

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge　R33.5　B9＋3x120/360).

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102240. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102240

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102241. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102241

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102242. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102242

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102243. Ni, Heイオン照射, 100nA, DF, 50K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102243

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102244. Ni, Heイオン照射, 100nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102244

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の場所.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102245. Ni, Heイオン照射, 100nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102245

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)100nA. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102246. Ni, Heイオン照射, 50nA, 100K., [1995年]6/9.

アイテム

資料番号: L-102246

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)50nA. (条件・倍率等)100K.

(備考)B31　B21　3ｘ100/360.

日付: [1995年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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