京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102570. ？, hydro, BF, 50K., [1995年]7/12.

アイテム

資料番号: L-102570

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)hydro. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200.

(備考)400℃　10Hr　（110）面. 日付元記載「7/12」.

日付: [1995年]7/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102571. ？, hydro, DF, 150K., [1995年]7/12.

アイテム

資料番号: L-102571

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)hydro. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年]7/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102572. ？, hydro, DF, 100K., [1995年]7/12.

アイテム

資料番号: L-102572

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)hydro. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年]7/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102573. ？, hydro, DF, 150K., [1995年]7/12.

アイテム

資料番号: L-102573

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)hydro. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年]7/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102574. ？, hydro, DF, 100K., [1995年]7/12.

アイテム

資料番号: L-102574

範囲と内容

(試料)？. (EM/D3)D3. (照射条件)hydro. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1995年]7/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102575. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102575

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)α　0.0黒1（290）Area　A. 日付元記載「7月15日」. 実験者元記載「松本, 桐谷」 .

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102576. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102576

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)α　Area　B.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102577. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102577

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)α　Area　B.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102578. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102578

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)β　-8黒1（80）Area　A.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102579. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102579

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)β　Area　B.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102580. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102580

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)γ　＋5.2赤19（220）Area　C.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102581. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102581

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)γ　Area　C.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102582. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102582

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)γ　Area　D.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102583. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102583

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)δ　＋8.0赤8（120）Area　C.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102584. Ni, 15K., [1995年]7月15日.

アイテム

資料番号: L-102584

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)δ　Area　D.

日付: [1995年]7月15日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102585. Ni, 15K., [1995年7月15日.]

アイテム

資料番号: L-102585

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)Area E　忘れたので.

日付: [1995年7月15日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102586. Ni, 15K., [1995年7月15日.]

アイテム

資料番号: L-102586

範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)15K.

(備考)α　＋3赤12（20）Area E.

日付: [1995年7月15日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102587. Ni., [1995年7月15日.]

アイテム

資料番号: L-102587

範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)β　-5赤8（110）Area E.

日付: [1995年7月15日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102589. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102589

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　B5°B24＋150. 実験者元記載「前野」.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102590. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102590

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102591. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 50K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102591

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102592. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102592

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B45°　B15°＋300.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102593. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102593

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102594. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, DF, 50K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102594

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102595. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102595

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102596. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, 50K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102596

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102597. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, 10K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102597

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102598. Ni, Heイオン照射, 25nAx5600s, ED., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102598

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nAx5600s. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102600. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102600

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)露出over.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102601. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102601

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α1　黒13°赤9°＋320/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102602. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102602

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α1　.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102603. Ni, Heイオン照射, 200nA, ED., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102603

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α1　.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102604. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102604

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α2（奥）黒13°赤9°＋280/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102605. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 150K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102605

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102606. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102606

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β1　黒6.5赤9°＋190/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102607. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102607

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β2　黒6.5°赤9°＋190/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102608. Ni, Heイオン照射, 200nA, ED., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102608

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β2.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102609. Ni, Heイオン照射, 200nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102609

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)200nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β2.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102610. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102610

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α1　黒15　黒9°＋80/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102611. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102611

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102612. Ni, Heイオン照射, 25nA, ED., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102612

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102613. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102613

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102614. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102614

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)失敗　β黒10黒3°180/360ｘ3.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102615. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 100K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102615

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102616. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102616

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102617. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF, 50K., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102617

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102618. Ni, Heイオン照射, 25nA, ED., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102618

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102619. Ni, Heイオン照射, 25nA, DF., [1995年10月17日.]

アイテム

資料番号: L-102619

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)25nA. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)おまけ.

日付: [1995年10月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102620. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1995年]7/17.

アイテム

資料番号: L-102620

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)300nm. 日付元記載「7/17」. 実験者元記載「Iseki」.

日付: [1995年]7/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102621. Ni, Heイオン照射, DF, 50K., [1995年]7/17.

アイテム

資料番号: L-102621

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]7/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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