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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102958. Ni, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102958
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)テヌポール＋仕上げ研磨後.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102959. Ni, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102959
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102960. Ni, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102960
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102961. Ni, JMTR多分割, BF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102961
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102962. Ni, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102962
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102963. Ni, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102963
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102964. Ni, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102964
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102965. Ni, JMTR多分割, BF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102965
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102966. Ni, JMTR多分割, BF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102966
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102967. Ni, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102967
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102968. Ni, JMTR多分割., [1995年9月1日]

 アイテム
資料番号: L-102968
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR多分割.

(備考)ボツ.

日付: [1995年9月1日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102981. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102981
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　B22°R9°＋100　A. 日付元記載「9/6」.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102982. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102982
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　B.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102983. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102983
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　B.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102984. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102984
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　Bの奥.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102985. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102985
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　Aの奥.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102986. Ni, Heイオン照射, 300℃, BF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102986
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)α　B22°R9°＋180　A.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102987. Ni, Heイオン照射, 300℃, BF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102987
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)α　B.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102988. Ni, Heイオン照射, 300℃, BF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102988
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)α　Bの奥.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102989. Ni, Heイオン照射, 300℃, BF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102989
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)α　Aの奥.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102990. Ni, Heイオン照射, 300℃, ED., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102990
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102991. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102991
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β　B17°R6　110　A.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102992. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102992
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β　B.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102993. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102993
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β　Bの奥.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102994. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102994
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β　Aの奥.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102995. Ni, Heイオン照射, 300℃, BF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102995
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β　B17°R6　180.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102996. Ni, Heイオン照射, 300℃, BF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102996
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102997. Ni, Heイオン照射, 300℃, BF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102997
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102998. Ni, Heイオン照射, 300℃, BF, 100K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102998
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-102999. Ni, Heイオン照射, 300℃, ED., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-102999
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103000. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 50K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-103000
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103001. Ni, Heイオン照射, 300℃, DF, 50K., [1995年]9/6.

 アイテム
資料番号: L-103001
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]9/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103003. Ni, T302, JMTR多分割., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103003
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割.

(備考)94M-15U　T33シリーズ　　ボツ. 日付元記載「9/8」. 実験者元記載「Y.Ogasawara」.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103004. Ni, T302, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103004
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α下28赤3（250）.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103005. Ni, T302, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103005
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103006. Ni, T302, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103006
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103007. Ni, T302, JMTR多分割, ED., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103007
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103008. Ni, T302, JMTR多分割, BF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103008
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103009. Ni, T302, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103009
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103010. Ni, T302, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103010
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β下22赤8（20）.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103011. Ni, T302, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103011
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103012. Ni, T302, JMTR多分割, BF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103012
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103013. Ni, T302, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103013
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103014. Ni, T302, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103014
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103015. Ni, T302, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年]9/8.

 アイテム
資料番号: L-103015
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]9/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103016. Ni, T303, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年9月8日]

 アイテム
資料番号: L-103016
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T303. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)つづき　T34シリーズ　110.

日付: [1995年9月8日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103017. Ni, T303, JMTR多分割, DF, 100K., [1995年9月8日]

 アイテム
資料番号: L-103017
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T303. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)110.

日付: [1995年9月8日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103018. Ni, T303, JMTR多分割, DF, 50K., [1995年9月8日]

 アイテム
資料番号: L-103018
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T303. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)100.

日付: [1995年9月8日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103019. Ni, T303, JMTR多分割, DF, 50K., [1995年9月8日]

 アイテム
資料番号: L-103019
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T303. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)100　さらに奥.

日付: [1995年9月8日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103020. Ni, T303, JMTR多分割, BF, 50K., [1995年9月8日]

 アイテム
資料番号: L-103020
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T303. (照射条件)JMTR多分割. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)100.

日付: [1995年9月8日]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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