京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85624. JPCAM, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1. 5.

アイテム

資料番号: L-85624

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)奥.

日付: [1993年]1. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85625. JPCAM, サイクルII-B, BF, 50K., [1993年]1. 5.

アイテム

資料番号: L-85625

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年]1. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85626. JPCAM, サイクルII-B, BF, 50K., [1993年]1. 5.

アイテム

資料番号: L-85626

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)奥.

日付: [1993年]1. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85627. JPCAM, サイクルII-B, BF, 50K., [1993年]1. 5.

アイテム

資料番号: L-85627

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)更に奥.

日付: [1993年]1. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85628. JPCAM, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1. 5.

アイテム

資料番号: L-85628

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年]1. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85629. JPCAM, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1. 5.

アイテム

資料番号: L-85629

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)奥.

日付: [1993年]1. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85630. JPCAM, サイクルII-B, ED., [1993年]1. 5.

アイテム

資料番号: L-85630

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]1. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85631. JPCAM, サイクルII-B, BF, 50K., [1993年]1. 5.

アイテム

資料番号: L-85631

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)ボイド？.

日付: [1993年]1. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85632. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85632

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　＋11.5黒6（240）. 日付元記載「1/6」.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85633. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85633

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)　.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85634. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85634

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85635. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85635

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85636. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85636

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85637. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85637

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85638. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, BF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85638

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85639. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, ED., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85639

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85640. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85640

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　＋2黒6（220）.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85641. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85641

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85642. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85642

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85643. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85643

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85644. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85644

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85645. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85645

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85646. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, BF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85646

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85647. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, ED., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85647

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85648. Cu-2Si, T072, サイクルII-B., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85648

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B.

(備考)ミス　別の視野.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85649. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85649

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85650. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85650

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85651. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85651

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85652. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85652

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85653. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85653

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85654. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85654

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85655. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85655

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85656. Cu-2Si, T072, サイクルII-B, ED., [1993年]1/6.

アイテム

資料番号: L-85656

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T072. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]1/6.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85657. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85657

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α＋24赤5（40）.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85658. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85658

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85659. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85659

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85660. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 150K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85660

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85661. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85661

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85662. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85662

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85663. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85663

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85664. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 20K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85664

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85665. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, ED., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85665

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85666. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85666

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　＋21黒5（300）酸化膜付いている.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85667. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85667

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85668. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85668

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85669. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85669

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85670. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85670

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85671. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85671

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85672. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, BF, 20K., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85672

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85673. Cu-2Ge, T105, サイクルII-B, ED., [1993年1月6日.]

アイテム

資料番号: L-85673

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T105. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年1月6日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

追加の絞り込み:

20938 コレクションおよび/またはレコード表示: