京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103178. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103178

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R 26.5　B3°　40/360ｘ3. 日付元記載「10/7」.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103179. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103179

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103180. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103180

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103181. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103181

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103182. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103182

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103183. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103183

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103184. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103184

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103185. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103185

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103186. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103186

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)R19.5　3°100/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103187. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103187

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103188. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103188

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103189. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103189

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103190. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103190

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103191. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103191

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103192. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103192

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103193. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103193

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103194. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103194

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103195. Ni, Heイオン照射, 200℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103195

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103196. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103196

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R11.5　6°120/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103197. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103197

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103198. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103198

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103199. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103199

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103200. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103200

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103201. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103201

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R3.5　3°20/360ｘ3.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103202. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103202

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103203. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103203

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103204. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, BF, 100K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103204

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103205. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, ED., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103205

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103206. Ni, Heイオン照射, 400℃, 100nAx2800sec, DF, 50K., [1995年]10/7.

アイテム

資料番号: L-103206

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)100nAx2800sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103223. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103223

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（340、-593）0.10中央側への欠陥がなくなる. 日付元記載「10/13」.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103224. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103224

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（400、-710）0.10外から欠陥があるところまで.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103225. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103225

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（-132、423）0.10反対の外から　”.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103226. Ni, Heイオン照射, 300℃., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103226

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃.

(備考)（-101,230）0.10中央からの　”.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103227. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103227

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R33.5　B0＋260/360ｘ3　edge.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103228. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103228

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103229. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103229

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103230. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103230

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)さらに.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103231. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103231

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103232. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103232

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103233. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103233

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)さらにおく.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103234. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103234

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103235. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, BF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103235

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103236. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103236

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103237. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103237

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103238. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, ED., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103238

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103239. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103239

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)R26.0　B0°＋100/360ｘ3　　e1.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103240. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103240

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　A.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103241. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103241

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e3.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103242. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103242

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e1　B.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103243. Ni, Heイオン照射, 300℃, 8400sec, DF, 100K., [1995年]10/13.

アイテム

資料番号: L-103243

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)300℃. (照射量)8400sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e2　.

日付: [1995年]10/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

追加の絞り込み:

20938 コレクションおよび/またはレコード表示: