京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103429. V, Cuイオン+e-照射, BF., [1995年]10/24.

アイテム

資料番号: L-103429

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン＋e-照射. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)-ｇ2　n＝4強.

日付: [1995年]10/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103430. V, Cuイオン+e-照射., [1995年]10/24.

アイテム

資料番号: L-103430

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン＋e-照射.

(備考)n＝4弱.

日付: [1995年]10/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103431. V, Cuイオン+e-照射., [1995年]10/24.

アイテム

資料番号: L-103431

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン＋e-照射.

(備考)n＝3.

日付: [1995年]10/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103432. V, Cuイオン+e-照射, BF, 30K., [1995年]10/24.

アイテム

資料番号: L-103432

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン＋e-照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)n＝4強　見えず.

日付: [1995年]10/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103433. V, Cuイオン+e-照射, 30K., [1995年]10/24.

アイテム

資料番号: L-103433

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン＋e-照射. (条件・倍率等)30K.

(備考)n＝4弱.

日付: [1995年]10/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103434. 30K., [1995年10月24日.]

アイテム

資料番号: L-103434

範囲と内容

(条件・倍率等)30K.

日付: [1995年10月24日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103435. 30K., [1995年10月24日.]

アイテム

資料番号: L-103435

範囲と内容

(条件・倍率等)30K.

日付: [1995年10月24日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103436. 30K., [1995年10月24日.]

アイテム

資料番号: L-103436

範囲と内容

(条件・倍率等)30K.

日付: [1995年10月24日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103437. 30K., [1995年10月24日.]

アイテム

資料番号: L-103437

範囲と内容

(条件・倍率等)30K.

日付: [1995年10月24日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103438. 30K., [1995年10月24日.]

アイテム

資料番号: L-103438

範囲と内容

(条件・倍率等)30K.

日付: [1995年10月24日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103442. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103442

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)He＋→（110）　see→（110）R45　R3°＋240/360ｘ3　edge. 日付元記載「10/25」. 実験者元記載「前野克弘」.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103443. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103443

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103444. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103444

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103445. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103445

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103446. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103446

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103447. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103447

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103448. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, BF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103448

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103449. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, BF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103449

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)奥　.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103450. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103450

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103451. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103451

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)奥　R8.5　B0°＋60/360ｘ3.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103452. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103452

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103453. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, BF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103453

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)奥.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103454. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103454

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103455. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103455

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103456. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, ED., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103456

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103457. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 50K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103457

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)失敗.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103458. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 50K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103458

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103459. Ni, Heイオン照射, 100℃, 2800s, DF, 50K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103459

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)2800s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)少し下の方.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103460. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103460

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B27°B9°200/360ｘ3.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103461. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103461

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103462. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, BF., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103462

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103463. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103463

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103464. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103464

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B23　B6°160/360ｘ3.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103465. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103465

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103466. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, BF., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103466

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103467. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103467

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103468. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, ED., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103468

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103469. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 50K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103469

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103470. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 59K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103470

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103471. Ni, Heイオン照射, 100℃, 840s, DF, 100K., [1995年]10/25.

アイテム

資料番号: L-103471

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1995年]10/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103472. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 100K., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103472

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)edge　A　場所　α　18°R6°＋200/360ｘ3.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103473. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 100K., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103473

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)B　　　　場所　α.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103474. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF, 100K., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103474

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)B　α.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103475. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF, 100K., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103475

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)B　α.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103476. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103476

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.5.

(備考)B　α.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103477. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103477

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)C　α.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103478. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103478

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)C　α.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103479. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103479

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103480. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, DF., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103480

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103481. Ni, Heイオン照射, 100℃, 280s, BF., [1995年10月25日.]

アイテム

資料番号: L-103481

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B　β.

日付: [1995年10月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

追加の絞り込み:

20938 コレクションおよび/またはレコード表示: