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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103807. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103807
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)AαR27　R21　220/360ｘ3　edge. 日付元記載「11/18」.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103808. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103808
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aα　そのおく.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103809. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, BF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103809
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aα　edge.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103810. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, BF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103810
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aα　そのおく.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103811. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103811
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bα　edge.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103812. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103812
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bα　おく.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103813. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, BF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103813
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bα　edge.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103814. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103814
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bα　おく.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103815. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103815
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ　R22　R21.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103816. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103816
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103817. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103817
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103818. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103818
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103819. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103819
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103820. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103820
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103821. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, BF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103821
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103822. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 100K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103822
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Aβ.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103823. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, ED., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103823
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103824. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 50K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103824
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103825. Ni, Heイオン照射, 100℃, 8400s, DF, 50K., [1995年]11/18.

 アイテム
資料番号: L-103825
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)100℃. (照射量)8400s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1995年]11/18.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103826. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103826
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B12°　R9°　220/360ｘ3　A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103827. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103827
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103828. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103828
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103829. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103829
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103830. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103830
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103831. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103831
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103832. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103832
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103833. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103833
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103834. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103834
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103835. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103835
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103836. Ni, Heイオン照射, 200℃, ED., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103836
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103837. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103837
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B8.5　R12°　B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103838. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103838
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103839. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103839
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103840. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103840
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103841. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103841
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103842. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103842
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103843. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103843
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103844. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103844
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103845. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103845
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103846. Ni, Heイオン照射, 200℃, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103846
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103847. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103847
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)穴B.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103848. Ni, Heイオン照射, 200℃, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103848
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103851. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103851
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)①　8°20’厚さ用. 実験者元記載「岡田」.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103852. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103852
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)①　2戻し.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103853. Heイオン照射, 550K, BF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103853
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)①　2送り.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103854. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103854
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103855. Heイオン照射, 550K, DF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103855
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103856. Heイオン照射, 550K, BF, 50K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103856
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)②.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103857. Heイオン照射, 550K, DF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103857
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)②.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-103858. Heイオン照射, 550K, BF, 100K., [1995年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-103858
範囲と内容

(照射条件)Heイオン照射. (照射温度)550K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)②.

日付: [1995年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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