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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104064. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104064
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104065. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104065
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104066. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104066
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104067. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104067
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B2°　B12°＋100/360x3　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104068. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104068
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104069. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104069
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　D.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104070. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104070
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　D.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104071. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, 50K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104071
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D　C.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104072. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, 37K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104072
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B用.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104073. Ni, Heイオン照射, 200℃, 280s, ED., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104073
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)200℃. (照射量)280s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104074. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104074
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　R18.5　B12＋140/360x3.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104075. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104075
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104076. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104076
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104077. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104077
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　edge.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104078. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104078
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　edge.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104079. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 100K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104079
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　edge.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104080. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104080
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　おくの変なもの.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104081. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104081
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　R13　B12　20/360x3.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104082. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, DF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104082
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104083. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104083
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104084. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104084
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104085. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104085
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104086. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104086
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104087. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 50K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104087
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓edge　.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104088. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, BF, 50K., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104088
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104089. Ni, Heイオン照射, 400℃, 840s, ED., [1995年11月29日.]

 アイテム
資料番号: L-104089
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (照射温度)400℃. (照射量)840s. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104090. Cu, JMTR, 200℃, 188h, DF, 100K., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104090
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1　-10赤2（240）. 日付元記載「11/30」.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104091. Cu, JMTR, 200℃, 188h, BF, 100K., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104091
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104092. Cu, JMTR, 200℃, 188h, 100K., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104092
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104093. Cu, JMTR, 200℃, 188h, BF, 100K., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104093
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104094. Cu, JMTR, 200℃, 188h, DF, 100K., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104094
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104095. Cu, JMTR, 200℃, 188h, DF, 100K., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104095
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104096. Cu, JMTR, 200℃, 188h, DF, 100K., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104096
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104097. Cu, JMTR, 200℃, 188h, ED., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104097
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104098. Cu, JMTR, 200℃, 188h, DF, 100K., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104098
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　-3赤6(240).

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104099. Cu, JMTR, 200℃, 188h, BF, 100K., [1995年]11/30.

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資料番号: L-104099
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104100. Cu, JMTR, 200℃, 188h, DF., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104100
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104101. Cu, JMTR, 200℃, 188h, DF., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104101
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104102. Cu, JMTR, 200℃, 188h, ED., [1995年]11/30.

 アイテム
資料番号: L-104102
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)188h. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]11/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104103. Cu, JMTR, 200℃, 540h, DF, 100K., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104103
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　-9°赤6°（0）.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104104. Cu, JMTR, 200℃, 540h, BF, 100K., [1995年11月30日.]

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資料番号: L-104104
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104105. Cu, JMTR, 200℃, 540h, DF, 100K., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104105
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104106. Cu, JMTR, 200℃, 540h, DF, 100K., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104106
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104107. Cu, JMTR, 200℃, 540h, DF, 100K., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104107
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104108. Cu, JMTR, 200℃, 540h, ED., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104108
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104109. Cu, JMTR, 200℃, 540h, BF, 100K., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104109
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　-11°赤12°（0）.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104110. Cu, JMTR, 200℃, 540h, DF, 100K., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104110
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104111. Cu, JMTR, 200℃, 540h., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104111
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104112. Cu, JMTR, 200℃, 540h., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104112
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104113. Cu, JMTR, 200℃, 540h, ED., [1995年11月30日.]

 アイテム
資料番号: L-104113
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)540h. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年11月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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