京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003
20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104480. Ni, T218, JMTR, 300℃, Medium dose, DF, 100K., [1995年12月22日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T218. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)Medium dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104481. Ni, T218, JMTR, 300℃, Medium dose, BF, 100K., [1995年12月22日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T218. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)Medium dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104482. Ni, T218, JMTR, 300℃, Medium dose, BF, 100K., [1995年12月22日.]
(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)T218. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)Medium dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104483. Ni-2Ge, JMTR, 300℃, High dose, DF, 100K., [1995年12月22日.]
(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)High dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104484. Ni-2Ge, JMTR, 300℃, High dose, DF, 100K., [1995年12月22日.]
(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)High dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104485. Ni-2Ge, JMTR, 300℃, High dose, DF, 100K., [1995年12月22日.]
(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)High dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104486. Ni-2Ge, JMTR, 300℃, High dose, BF, 50K., [1995年12月22日.]
(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)High dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104487. Ni-2Ge, JMTR, 300℃, High dose, BF, 73K., [1995年12月22日.]
(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)High dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)73K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104488. Ni-2Ge, JMTR, 300℃, High dose, BF, 50K., [1995年12月22日.]
(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)High dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)void contrast.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104489. Ni-2Sn, JMTR, 300℃, Low dose, BF, 20K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
(備考)日付元記載「12/24」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104490. Ni-2Sn, JMTR, 300℃, Low dose, BF, 20K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104491. Ni-2Sn, JMTR, 300℃, Low dose, BF, 20K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104492. Ni-2Sn, JMTR, 300℃, medium dose, BF, 20K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)medium dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104493. Ni-2Sn, JMTR, 300℃, medium dose, BF, 20K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (照射量)medium dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104495. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, DF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.
(備考)日付元記載「12/24」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104496. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, DF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104497. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, DF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104498. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, BF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104499. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, BF, 50K., [1995年]12/24.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104500. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, DF, 50K., [1995年]12/24.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104501. Ni, H04, LASREF, RT, ⑦シリーズ, BF, 50K., [1995年]12/24.
(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)H04. (照射条件)LASREF. (照射温度)RT. (照射量)⑦シリーズ. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104503. Ni-2Si, JMTR, 200℃, Low dose, DF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)別視野. 日付元記載「12/24」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104504. Ni-2Si, JMTR, 200℃, Low dose, DF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.
(備考)別視野.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104505. Ni-2Si, JMTR, 200℃, Low dose, DF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104506. Ni-2Si, JMTR, 200℃, Low dose, BF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)Low dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104507. Ni-2Si, JMTR, 200℃, medium dose, DF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)medium dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>>0.
(備考)日付元記載「12/24」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104508. Ni-2Si, JMTR, 200℃, medium dose, DF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)medium dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104509. Ni-2Si, JMTR, 200℃, medium dose, DF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)medium dose. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104510. Ni-2Si, JMTR, 200℃, medium dose, BF, 100K., [1995年]12/24.
(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (照射量)medium dose. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104512. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
(備考)(QD->研磨 A1 破断したところに近い部分. 日付元記載「'95/12/25 (月)」. 実験者元記載「荒河」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104513. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104514. Au, BF., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)BF.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104515. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104516. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104517. Au, ED., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104518. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104519. Au., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104520. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104521. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104522. Au, ED., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104523. Au, BF, 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104524. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104525. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104526. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104527. Au, ED., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104528. Au, BF., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)BF.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104529. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104530. Au, DF , 50K., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)DF . (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104531. Au, ED., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104532. Au, BF., [19]'95/12/25 (月).
(試料)Au. (Dark, Bright, ED)BF.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
- ニッケル 3538
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
- 銅 2841
- 金 1686
- バナジウム 1634
- 銀 1529
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
- 鉄 575
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
- 鉄合金 429
- ステンレス鋼 368
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
- ノート 51
- 材料試験 51
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
- 記録ノート Notebooks 51
- 電子顕微鏡 51
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
- 珪素 5
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 1