京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003
20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106162. Cu, e-irr, BF., [19]'96/8/29 (木).
(試料)Cu. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106183., [1996年9月10日.]
(備考)フィルム黒化テスト 0.12秒. (16見開き目に記載あり)日付元記載「'96/9/10」. 実験者元記載「荒河」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106184., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106185., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106186., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106187., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106188., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106189., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106190., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106191., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106192., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106193., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106194., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106195., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106196., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106197., [1996年9月10日.]
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106198. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.
(備考)A-Si (43hr:640℃ 2hrアニ―ル).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106199. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106200. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106201. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106202. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106203. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106204. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106205. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106206. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106207. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106208. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106209. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106210. A-Si, 3.7K., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)3.7K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106211. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106212. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106213. A-Si, 3.7K., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)3.7K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106214. A-Si, 1.5K., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (条件・倍率等)1.5K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106215. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106216. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106217. A-Si, ED., [1996年9月10日.]
(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106218. Ni, e-irr., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr.
(備考)e- 10月1日分 空. 日付元記載「10/2」. 実験者元記載「松本」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106219. Ni, e-irr, 50K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.
(備考)Area C n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106220. Ni, e-irr, 100K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)100K.
(備考)n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106221. Ni, e-irr, DF, 50K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106222. Ni, e-irr, BF, 50K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106223. Ni, e-irr, 50K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.
(備考)n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106224. Ni, e-irr, 100K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)100K.
(備考)n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106225. Ni, e-irr, DF, 50K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106226. Ni, e-irr, 50K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.
(備考)n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106227. Ni, e-irr, 100K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)100K.
(備考)n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106228. Ni, e-irr, DF, 50K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106229. Ni, e-irr, 50K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)50K.
(備考)n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106230. Ni, e-irr, 100K., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)100K.
(備考)n=3.5x2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-106231. Ni, e-irr, Low Mag., [1996年]10/2.
(試料)Ni. (照射条件)e-irr. (条件・倍率等)Low Mag.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
- ニッケル 3538
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
- 銅 2841
- 金 1686
- バナジウム 1634
- 銀 1529
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
- 鉄 575
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
- 鉄合金 429
- ステンレス鋼 368
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
- ノート 51
- 材料試験 51
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
- 記録ノート Notebooks 51
- 電子顕微鏡 51
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
- 珪素 5
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 1