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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58917. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 350℃, DF., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58917
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58918. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 350℃, DF., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58918
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58919. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 350℃, BF, 100K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58919
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)アンダー.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58920. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 350℃, BF, 100K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58920
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)オーバー.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58921. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 350℃, BF, 170K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58921
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)170K.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58922. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 350℃, ED., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58922
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58923. Fe-0.1Mn, JMTRcontrolled, 350℃, 50K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58923
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (条件・倍率等)50K.

(備考)ボイド？ステレオ.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58924. Fe-0.1Mn, JMTRcontrolled, 350℃, ED., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58924
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ボイド？ステレオ.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58925. Fe-0.1Mn, JMTRcontrolled, 350℃, 50K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58925
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (条件・倍率等)50K.

(備考)ボイド？ステレオ.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58926. Fe-0.1Mn, JMTRcontrolled, 350℃, ED., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58926
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ボイド？ステレオ.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88549. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88549
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α　＋5.5　黒6（310）. 日付元記載「7/10」. 実験者元記載「by Kiz.」.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88550. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88550
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88551. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, BF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88551
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88552. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88552
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β　-3　黒6（340）.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88553. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, BF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88553
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88554. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88554
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88555. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, ED., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88555
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88556. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88556
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α　-30　黒18（100９.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88557. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, BF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88557
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88558. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88558
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β　-19　黒12（180）.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88559. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, BF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88559
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88560. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88560
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88561. Cu-0.3Ge, T62, RASREF, ED., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88561
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88562. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88562
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α　＋21赤0（340）. 日付元記載「7/10」. 実験者元記載「木塚」.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88563. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, DF, 100K., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88563
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88564. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, ED., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88564
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　＋20赤6（340）.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88565. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, DF., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88565
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88566. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, DF., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88566
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88567. Cu-0.3Sn, T82, RASREF, DF., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88567
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T82. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88568. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF., [1993年]7/10.

 アイテム
資料番号: L-88568
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]7/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88569. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88569
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α　＋21赤0（340）　α　-36赤8（140）. 実験者元記載「河内」.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88570. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, BF., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88570
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)S＞0.

(備考)α.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88571. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88571
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88572. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88572
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β　-33赤18（290）.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88573. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, BF., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88573
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88574. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, DF., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88574
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88575. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, ED., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88575
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88577. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88577
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)失敗. 日付元記載「7/10 (Sat.)」. 実験者元記載「Y Hayashi」.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88578. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88578
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88579. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88579
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88580. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88580
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88581. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88581
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88582. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88582
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88583. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88583
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88584. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88584
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88585. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88585
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88586. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88586
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88587. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88587
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88588. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88588
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)over　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88589. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Under focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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