京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86037. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, DF, 50K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86037

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86038. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86038

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86039. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, DF, 100K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86039

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86040. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, BF, 30K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86040

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　disl　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86041. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, BF, 30K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86041

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)B　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86042. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, BF, 15K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86042

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K.

(備考)A　disl　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86043. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, BF, 15K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86043

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K.

(備考)B　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86044. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, DF, 30K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86044

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)A　α　.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86045. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, DF, 30K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86045

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)B　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86046. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, DF, 15K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86046

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K.

(備考)A　α　.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86047. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, DF, 15K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86047

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K.

(備考)B　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86048. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, BF., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86048

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　voidみられず　α.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86049. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, DF, 15K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86049

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86050. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, DF, 30K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86050

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86051. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, ED., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86051

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86052. Ni-2Si, A407, サイクルII-B, BF, 50K., [1993年]1/22.

アイテム

資料番号: L-86052

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A407. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ぼつステレオやめ.

日付: [1993年]1/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86053. VC, ED., [1993年]1/25.

アイテム

資料番号: L-86053

範囲と内容

(試料)VC. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)日付元記載「1/25」. 実験者元記載「加藤」.

日付: [1993年]1/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86054. VC, ED., [1993年]1/25.

アイテム

資料番号: L-86054

範囲と内容

(試料)VC. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]1/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86056. VC, BF, 50K., [1993年]1/25.

アイテム

資料番号: L-86056

範囲と内容

(試料)VC. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年]1/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86057. VC, BF, 50K., [1993年]1/25.

アイテム

資料番号: L-86057

範囲と内容

(試料)VC. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年]1/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86058. Ni, サイクルII-A, BF, 50K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86058

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A. 日付元記載「1/27」. 実験者元記載「by 小笠原」.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86059. Ni, サイクルII-A, BF, 50K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86059

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86060. Ni, サイクルII-A, BF, 50K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86060

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)同じ視野1.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86061. Ni, サイクルII-A, BF, 50K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86061

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)同じ視野1　disl.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86062. Ni, サイクルII-A, BF, 50K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86062

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)同じ視野1　void.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86063. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86063

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)同じ視野2.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86064. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86064

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)同じ視野2　disl.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86065. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86065

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)同じ視野2　void.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86066. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86066

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)同じ視野2　disl&void.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86067. Ni, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86067

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)同じ視野3.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86068. Ni, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86068

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)同じ視野3　disl.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86069. Ni, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86069

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)同じ視野3　void.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86070. Ni, サイクルII-A, BF, 10K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86070

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86071. Ni, サイクルII-A, BF, 10K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86071

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86072. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86072

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)75の反対側にはずした.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86073. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86073

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)ボツ.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86074. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86074

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)dislocation＋ボイド.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86075. Ni, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年]1/27.

アイテム

資料番号: L-86075

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)ボイドコントラスト.

日付: [1993年]1/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86076. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86076

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　（100）. 実験者元記載「by 小笠原」.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86077. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86077

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)disl&void.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86078. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86078

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　（110）.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86079. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86079

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)disl.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86080. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 20K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86080

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)void.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86081. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 100K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86081

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)void　dislにかかわらず一様.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86082. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86082

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)void.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86083. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86083

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)違う視野　void.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86084. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86084

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)void　disl辞退あまりみられない.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86085. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86085

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)void.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86086. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86086

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)void　厚い所.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86087. Ni-2Ge, サイクルII-A, BF, 30K., [1993年1月27日.]

アイテム

資料番号: L-86087

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)void.

日付: [1993年1月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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