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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88640. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88640
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88641. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88641
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88642. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88642
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88643. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88643
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88644. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88644
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88645. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88645
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88646. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88646
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88647. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88647
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88648. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88648
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88649. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88649
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88650. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88650
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88651. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88651
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88652. Ni, He Ion照射, ED., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88652
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88653. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88653
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88654. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88654
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88655. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

 アイテム
資料番号: L-88655
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88656. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88656
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus. 実験者元記載「Y. Hayashi」.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88657. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88657
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88658. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88658
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88659. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88659
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88660. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88660
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88661. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88661
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88662. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88662
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88663. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88663
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88664. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88664
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88665. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88665
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88666. Ni, He Ion照射, ED., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88666
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88667. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88667
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88668. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88668
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88669. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88669
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88670. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88670
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88671. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88671
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88672. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88672
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88673. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88673
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88674. Ni, He Ion照射, ED., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88674
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88675. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88675
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88676. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

 アイテム
資料番号: L-88676
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88677. Ag, Cu Ion照射, RT, DF, 100K., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88677
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)loopの動き　焼鈍実験. 日付元記載「8/4」. 実験者元記載「桐谷. 三間.」.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88678. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88678
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)loopの動き.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88679. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88679
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)loopの動き.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88680. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88680
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　α　-9.10（0）.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88681. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88681
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　α.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88682. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88682
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　α.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88683. Ag, Cu Ion照射, RT, DF, 100K., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88683
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　-4.5黒5（20）.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88684. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88684
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88685. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88685
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C　.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88686. Ag, Cu Ion照射, RT, ED., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88686
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88687. Ag, Cu Ion照射, RT, DF, 100K., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88687
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88688. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88688
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88689. Ag, Cu Ion照射, RT, DF., [1993年]8/4.

 アイテム
資料番号: L-88689
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu Ion照射. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1993年]8/4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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