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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89526. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89526
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　0赤0（220）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89527. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89527
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89528. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89528
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89529. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89529
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89530. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89530
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別視野.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89531. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89531
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89532. Cu-2Si, T34, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89532
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T34. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89533. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89533
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋16赤0（200）. 日付元記載「9/30」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89534. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89534
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89535. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89535
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋20黒6（40）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89536. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89536
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89537. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89537
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89538. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89538
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89539. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89539
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-15黒12（220）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89540. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89540
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89541. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89541
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-10黒0（30）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89542. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89542
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89543. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89543
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89544. Cu-0.3Ge, T64, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89544
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T64. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89545. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89545
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋5赤0（230）. 日付元記載「9/30」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89546. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89546
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89547. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89547
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋16黒6（200）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89548. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89548
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89549. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89549
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89550. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89550
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89551. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89551
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋3赤0（20）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89552. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89552
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89553. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89553
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89554. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89554
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-5赤12（120）.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89555. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89555
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89556. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, ED., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89556
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89557. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89557
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89558. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89558
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89559. Cu-0.3Sn, T84, LAMPF, 7D, ED, 100K., [1993年]9/30.

 アイテム
資料番号: L-89559
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)T84. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]9/30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89560. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89560
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-22黒0（160）. 日付元記載「10/1」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89561. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89561
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89562. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89562
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-15赤12（240）.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89563. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89563
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89564. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89564
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89565. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, ED., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89565
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89566. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89566
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　同上.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89567. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89567
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89568. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89568
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　同上.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89569. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89569
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89570. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89570
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89571. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, ED., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89571
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89572. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89572
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89573. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89573
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89574. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89574
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別の視野.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89575. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89575
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-27黒18（340）. 日付元記載「10/1」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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