京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003
団体
20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, シリーズ] L-89576. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.
アイテム
資料番号: L-89576
範囲と内容
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)α.
日付:
[1993年]10/1.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89577. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.
アイテム
資料番号: L-89577
範囲と内容
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)β -30黒6（180）.
日付:
[1993年]10/1.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89578. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.
アイテム
資料番号: L-89578
範囲と内容
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)β.
日付:
[1993年]10/1.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89579. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.
アイテム
資料番号: L-89579
範囲と内容
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)β.
日付:
[1993年]10/1.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89580. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, ED., [1993年]10/1.
アイテム
資料番号: L-89580
範囲と内容
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
日付:
[1993年]10/1.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89581. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.
アイテム
資料番号: L-89581
範囲と内容
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
日付:
[1993年]10/1.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89582. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.
アイテム
資料番号: L-89582
範囲と内容
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
日付:
[1993年]10/1.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89583. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.
アイテム
資料番号: L-89583
範囲と内容
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
日付:
[1993年]10/1.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89584. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D., [1993年]10/1.
アイテム
資料番号: L-89584
範囲と内容
(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D.
(備考)失敗.
日付:
[1993年]10/1.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89619. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89619
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)日付元記載「10/3」.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89620. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89620
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89621. Cu, T06, LAMPF, 3B, BF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89621
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89622. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89622
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89623. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89623
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B.G.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89624. Cu, T06, LAMPF, 3B, BF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89624
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)BF.
(備考)B.G.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89625. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89625
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)B.G.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89626. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89626
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
(備考)B.G.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89627. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89627
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89628. Cu, T06, LAMPF, 3B, BF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89628
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
(備考)厚い.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89629. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89629
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89630. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89630
範囲と内容
(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.
(備考)日付元記載「10/3」. 実験者元記載「Kiz.」.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89631. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89631
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89632. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89632
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89633. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89633
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.
(備考)B.G. ＆ disl.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89634. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 50K., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89634
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.
(備考)Disl.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89635. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89635
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.
(備考)Disl.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89636. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89636
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89637. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89637
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89638. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89638
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89639. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89639
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89640. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89640
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89641. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89641
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89642. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.
アイテム
資料番号: L-89642
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.
(備考)失敗.
日付:
[1993年]10/3.
[ネガフィルム, シリーズ] L-89643. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 30K., [1993年10月3日.]
アイテム
資料番号: L-89643
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.
(備考)Area A1.
日付:
[1993年10月3日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89644. Cu, T08, LAMPF, 7D, ED., [1993年10月3日.]
アイテム
資料番号: L-89644
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.
日付:
[1993年10月3日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89645. Cu, T08, LAMPF, 7D, ED., [1993年10月3日.]
アイテム
資料番号: L-89645
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.
日付:
[1993年10月3日.]
[ネガフィルム, シリーズ] L-89646. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 30K., [1993年10月3日.]
アイテム
資料番号: L-89646
範囲と内容
(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.
(備考)Area A1.
日付:
[1993年10月3日.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-11 平成2年9月10日→., 平成2年9月10日→[11月19日]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「11/19」より.], [1990-09-10/1990-11-19.]
アイテム
資料番号: L-11
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
平成2年9月10日→[11月19日]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「11/19」より.]; [1990-09-10/1990-11-19.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-12 平成2年11月〜., 平成2年11月〜[平成3年（1991）7月24日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1990.11.21」, 終了日付「1991.7.24」より.], [1990-11-21/1991-07-24.]
アイテム
資料番号: L-12
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
平成2年11月〜[平成3年（1991）7月24日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1990.11.21」, 終了日付「1991.7.24」より.]; [1990-11-21/1991-07-24.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-13 平成3年9月. 72406-81511., 平成3年9月[17日〜平成4年（1992）7月3日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1991年9月17日」, 終了日付「7/3」より.], [1991-09-17/1992-07-03.]
アイテム
資料番号: L-13
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
平成3年9月[17日〜平成4年（1992）7月3日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1991年9月17日」, 終了日付「7/3」より.]; [1991-09-17/1992-07-03.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-14. 80778-81459., [1992.2.10〜6.5.] [ノート内記載「1992.2.10」, 「6/5（金）」より.], [1992-02-10/1992-06-05.]
アイテム
資料番号: L-14
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1992.2.10〜6.5.] [ノート内記載「1992.2.10」, 「6/5（金）」より.]; [1992-02-10/1992-06-05.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-15. 81512-82574., [1992.7.4〜10.16.] [ノート内記載「1992.7.4」, 「10/16」より.], [1992-07-04/1992-10-16.]
アイテム
資料番号: L-15
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1992.7.4〜10.16.] [ノート内記載「1992.7.4」, 「10/16」より.]; [1992-07-04/1992-10-16.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-16 1992.10.16〜. 82575-84670., 1992.10.16〜[12.10]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「12/10」より.], [1992-10-16/1992-12-10.]
アイテム
資料番号: L-16
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1992.10.16〜[12.10]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「12/10」より.]; [1992-10-16/1992-12-10.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-17 1992.12.10〜. 84678-85754., 1992.12.10〜[1.8]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「1/8」より.], [1992-12-10/1993-01-08.]
アイテム
資料番号: L-17
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
1992.12.10〜[1.8]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「1/8」より.]; [1992-12-10/1993-01-08.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-18. 85755-86692., [1993.1.12〜3.17.] [ノート内記載「1/12」, 「3/17」より. ], [1993-01-12/1993-03-17.]
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資料番号: L-18
範囲と内容
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高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1993.1.12〜3.17.] [ノート内記載「1/12」, 「3/17」より. ]; [1993-01-12/1993-03-17.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-19, [1993.3.18〜5.30.] [ノート内記載「3/18」, 「5/30」より.], [1993-03-18/1993-05-30.]
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資料番号: L-19
範囲と内容
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高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[1993.3.18〜5.30.] [ノート内記載「3/18」, 「5/30」より.]; [1993-03-18/1993-05-30.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-20 ’93.5.31〜, [19]'93.5.31〜[7.9]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「7/9」より.], [1993-05-31/1993-07-09.]
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資料番号: L-20
範囲と内容
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高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[19]'93.5.31〜[7.9]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「7/9」より.]; [1993-05-31/1993-07-09.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-21 '93.7.10〜, [19]'93.7.10〜[10.3]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「10/3」より.], [1993-07-10/1993-10-03.]
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資料番号: L-21
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高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[19]'93.7.10〜[10.3]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「10/3」より.]; [1993-07-10/1993-10-03.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-22 '93.10.6〜, [19]'93.10.6〜[11.13]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「11/13」より.], [1993-10-06/1993-11-13.]
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資料番号: L-22
範囲と内容
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高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[19]'93.10.6〜[11.13]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「11/13」より.]; [1993-10-06/1993-11-13.]
[記録ノート, Lシリーズ] L-23 '93.11.16〜, [19]'93.11.16〜[12.27]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「12.27」より.], [1993-11-16/1993-12-27.]
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資料番号: L-23
範囲と内容
コレクション ：
高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付:
[19]'93.11.16〜[12.27]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「12.27」より.]; [1993-11-16/1993-12-27.]
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
- ニッケル 3538
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
- 銅 2841
- 金 1686
- バナジウム 1634
- 銀 1529
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
- 鉄 575
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
- 鉄合金 429
- ステンレス鋼 368
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
- ノート 51
- 材料試験 51
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
- 記録ノート Notebooks 51
- 電子顕微鏡 51
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
- 珪素 5
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
- 資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1