京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003
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[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86543. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86544. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)つづき Area 19 3sec α+8.8黒13(100). 日付元記載「2/23」. 実験者元記載「三間」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86545. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86546. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86547. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, ED., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86548. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β -16.5黒11(330).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86549. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86550. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 50K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86551. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)area 20 300sec α-5.5黒7(300).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86552. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86553. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, ED., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86554. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β -14.0黒9(95).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86555. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃, DE, 100K., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86556. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃.
(備考)失敗.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86557. Ag, Cuイオン照射100kV, 200℃., [1993年]2/23.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (照射温度)200℃.
(備考)失敗.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86558. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)220.
(備考)α contour edge on. 日付元記載「3/4」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86559. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)220.
(備考)α contour edge on.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86560. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86561. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)111.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86562. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 20K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)111.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86563. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)111.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86564. Ni, STEM SCAN IRRD, ED., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86565. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)δ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86566. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
(備考)δ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86567. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 20K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
(備考)δ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86568. Ni, STEM SCAN IRRD, ED., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)δ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86569. Ni, STEM SCAN IRRD, BF, 50K., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)contour殆どedge on+2黒0-3(240).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86570. Ni, STEM SCAN IRRD, ED., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86571. Ni, STEM SCAN IRRD., [1993年]3/4.
(試料)Ni. (照射条件)STEM SCAN IRRD.
(備考)ボツ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86572. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)1st obs dummy. 日付元記載「3/6」. 実験者元記載「三間」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86573. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)dummy.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86574. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86575. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86576. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86577. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86578. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86579. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86580. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86581. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86582. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86583. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86584. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86585. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 5.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86586. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 5.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86587. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 5.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86588. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 6.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86589. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 6.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86590. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 6.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86591. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 50K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 7-1.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86592. Ag, Cuイオン照射100kV, DF, 100K., [1993年]3/6.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100kV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)Area 7-1.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
- ニッケル 3538
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
- 銅 2841
- 金 1686
- バナジウム 1634
- 銀 1529
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
- 鉄 575
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
- 鉄合金 429
- ステンレス鋼 368
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
- ノート 51
- 材料試験 51
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
- 記録ノート Notebooks 51
- 電子顕微鏡 51
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
- 珪素 5
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 1