京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87866. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87866

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order　D.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87867. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87867

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87868. Cu3Au, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87868

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)order.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87869. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87869

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)100.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87870. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87870

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87871. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87871

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87872. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87872

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87873. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87873

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87874. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87874

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87875. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87875

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87876. Cu3Au, Cuイオン照射60keV, DF, 100K., [1993年]6/8.

アイテム

資料番号: L-87876

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射60keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)？.

日付: [1993年]6/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87878. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87878

範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「6/9」.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87879. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87879

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87880. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87880

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87881. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87881

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87882. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87882

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)奥.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87883. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87883

範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)試料超薄い.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87884. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87884

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87885. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87885

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87886. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87886

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87887. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87887

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)奥.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87888. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 150K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87888

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87889. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87889

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87890. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87890

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)少し奥.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87891. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87891

範囲と内容

(試料)JPCAM. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87892. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87892

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87893. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87893

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87894. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87894

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)奥.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87895. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 150K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87895

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87896. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87896

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87897. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87897

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87898. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87898

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87899. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 100K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87899

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)奥.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87900. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87900

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87901. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 20K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87901

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87902. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87902

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボイド.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87903. JPCAM, JMTRcontrooled, 200℃, BF, 50K., [1993年]6/9.

アイテム

資料番号: L-87903

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)JMTRcontrooled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボイド　奥.

日付: [1993年]6/9.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87904. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87904

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「6/11」.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87905. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87905

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87906. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87906

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87907. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87907

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87908. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87908

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87909. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87909

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87910. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87910

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87911. Ni, Heイオン照射, DF, 200K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87911

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87912. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87912

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87913. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87913

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87914. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87914

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87915. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87915

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87916. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/11.

アイテム

資料番号: L-87916

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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