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京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003

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20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88067. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88067
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-11.3黒23（260）.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88068. Ni, LAMPF, BF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88068
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88069. Ni, LAMPF, ED., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88069
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88070. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88070
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　-7.4黒11.5（100）.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88071. Ni, LAMPF, BF., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88071
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88072. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88072
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88073. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88073
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88074. Ni, LAMPF, DF, 20K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88074
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88075. Ni, LAMPF, BF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88075
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88076. Ni, LAMPF, BF, 50K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88076
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88077. Ni, LAMPF, BF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88077
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)前項つづき. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88078. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

 アイテム
資料番号: L-88078
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年6月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88079. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88079
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α-3黒6（100）. 日付元記載「6/26」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88080. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88080
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88081. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88081
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88082. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88082
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)-3　0（340）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88083. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88083
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　かさね失敗.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88084. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88084
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88085. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88085
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β-2赤6（40）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88086. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88086
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88087. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88087
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88088. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88088
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88089. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88089
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88090. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88090
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　0黒6（120）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88091. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88091
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88092. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88092
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　-7赤0（200）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88093. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88093
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88094. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88094
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88095. Cu-2Ge, T72, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88095
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T72. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88096. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88096
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α-32赤0（140）. 日付元記載「6/26」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88097. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88097
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88098. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88098
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88099. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88099
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α　-32赤0（260）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88100. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88100
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β　-26赤0（160）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88101. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88101
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88102. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88102
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88103. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88103
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　-26赤6（40）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88104. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88104
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88105. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, BF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88105
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88106. Cu-2Ni, T52, LAMPF, position3・B, DF., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88106
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T52. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88107. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88107
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α-3赤0（120）. 日付元記載「6/26」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88108. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88108
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88109. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88109
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88110. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88110
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88111. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88111
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α　-3　0（0）.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88112. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88112
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88113. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88113
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　＋5.5赤0（260.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88114. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88114
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88115. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88115
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88116. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88116
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
ニッケル 3538
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
銅 2841
金 1686
バナジウム 1634
銀 1529
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
鉄 575
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
鉄合金 429
ステンレス鋼 368
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
ノート 51
材料試験 51
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
記録ノート Notebooks 51
電子顕微鏡 51
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
珪素 5
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 1

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