京都大学原子炉実験所材料照射効果研究分野, -2003
20938 コレクションおよび/またはレコード 表示:
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84461. Ni, ED., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84462. Ni, BF., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84463. Ni, DF., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)β+11.5黒23(100).
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84464. Ni, ED., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84465. Ni, BF., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84466. Ni, DF., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)β.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84467. Ni, DF, 50K., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
(備考)α+16.5黒19(320). 実験者元記載「(84467〜84471を示し)Y.O.」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84468. Ni, DF., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84469. Ni, ED., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)α.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84470. Ni, DF, 50K., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84471. Ni, BF., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s>0.
(備考)γ.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84472. Ni, BF, 50K., [1992年]12/5(土).
(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84473. Cu, T201, JMTRサイクルII-A, BF, 20K., [1992年]12/7(月).
(試料)Cu. (試料番号)T201. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
(備考)ゴミ?が全面に付着 観察不可能. 日付元記載「12/7(月)」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84474. Cu, T201, JMTRサイクルII-A, BF, 20K., [1992年]12/7(月).
(試料)Cu. (試料番号)T201. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84475. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.
(備考)1st obs. 日付元記載「1992. 12. 7」. 実験者元記載「三間&桐谷」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84476. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84477. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84478. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.
(備考)矢印入り.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84479. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84480. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, BF, 50K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84481. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.
(備考)矢印入り.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84482. ?, BF, 20K., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
(備考)日付元記載「1992. 12. 7 pm 18:00」. 実験者元記載「加藤&桐谷」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84483. ?, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84484. ?, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84485. ?, BF, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84486. ?, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)ED.
(備考)SAED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84487. ?., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84488. ?, 20K., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84489. ?, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84490. ?, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84491. ?, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84492. ?, BF, 20K., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84493. ?, BF, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84494. ?, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)ED.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84495. ?, DF, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.
(試料)?. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84496. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)2nd 1 ダミー部分. 日付元記載「1992. 12. 7」. 実験者元記載「三間」.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84497. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)2.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84498. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)3.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84499. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)4.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84500. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)5.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84501. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)6.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84502. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)7.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84503. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)8.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84504. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)9.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84505. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)10.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84506. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)11.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84507. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)12.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84508. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)13.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84509. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.
(備考)14.
[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84510. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.
(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=4.
(備考)15同じグレイン.
追加の絞り込み:
- 主題
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs 20887
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 20370
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7080
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5619
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3702
- ニッケル 3538
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 2916
- 銅 2841
- 金 1686
- バナジウム 1634
- 銀 1529
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1173
- アメリカ カリフォルニア州 リバモア 746
- 鉄 575
- 電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 517
- 鉄合金 429
- ステンレス鋼 368
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 356
- ノート 51
- 材料試験 51
- 東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 51
- 記録ノート Notebooks 51
- 電子顕微鏡 51
- 記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
- 記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 14
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 9
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 6
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5
- 珪素 5
- 共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 4
- 資料利用例(論文等掲載元データ登録分) Micrographs published in papers (selelcted) 1