義家, 敏正, 1948-

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81301. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81301

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部. 日付元記載「4/7」.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81302. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81302

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81303. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81303

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81304. Si, 200keV e-., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81304

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-.

(備考)エッジ部.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81305. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81305

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81306. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81306

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81307. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81307

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81308. Si, 200keV e-, ED, 55cm., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81308

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81309. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81309

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81310. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81310

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81311. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81311

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81312. Si, 200keV e-, ED, 55cm., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81312

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81313. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81313

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81314. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81314

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)この位置10:22 start ｺﾝﾃﾞﾝｻｰしぼりはずす.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81315. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81315

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)15分後.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81316. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81316

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)20分後.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81317. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81317

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)21分.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81318. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81318

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)30分.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81319. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81319

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)30分　ｺﾝﾃﾞﾝｻｰ絞り入れる　照射end.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81320. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81320

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)　.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81321. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81321

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81322. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81322

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81323. Si, 200keV e-, ED, 55cm., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81323

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81324. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81324

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81325. Si, 200keV e-, DF, 50K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81325

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81326. Si, 200keV e-, DF, 30K., [1992年]4/7.

アイテム

資料番号: L-81326

範囲と内容

(試料)Si. (照射条件)200keV e-. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)β.

日付: [1992年]4/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81328. Ni, DF, 100K., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81328

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①　下と対. 日付元記載「4/20」, 「4/22」.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81329. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81329

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①　上と対.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81330. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81330

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)　.

(備考)①　一つ　もう一回　.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81331. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81331

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①　二つ　もう一回.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81332. Ni, ED., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81332

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)①　spotなし.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81333. Ni, DF, 100K., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81333

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81334. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81334

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)　.

(備考)②.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81335. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81335

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

(備考)②.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81336. Ni, ED., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81336

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)②.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81337. Ni, DF, 100K., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81337

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81338. Ni, DF., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81338

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs).

(備考)③.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81339. Ni, ED., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81339

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)③.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81340. Ni., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81340

範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)edge.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81341. Ni., [1992年]4/20, 4/22.

アイテム

資料番号: L-81341

範囲と内容

(試料)Ni.

(備考)edge.

日付: [1992年]4/20, 4/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81342. SUS, BF, 15K., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81342

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「4/23」.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81343. SUS, ED, 55cm., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81343

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81344. SUS, BF, 50K., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81344

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81345. SUS, BF, 100K., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81345

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81346. SUS, DF, 50K., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81346

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81347. SUS, DF, 100K., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81347

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81348. SUS, DF, 50K., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81348

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81349. SUS, DF, 100K., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81349

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

(備考)」.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81350. SUS, BF, 20K., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81350

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81351. SUS, DF, 50K., [1992年]4/23.

アイテム

資料番号: L-81351

範囲と内容

(試料)SUS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)α　下と対.

日付: [1992年]4/23.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

5848 コレクションおよび/またはレコード 表示:

現在の絞り込み条件：

追加の絞り込み:

5848 コレクションおよび/またはレコード表示: