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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16633. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16633
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16634. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16634
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16635. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16635
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16636. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16636
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16637. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16637
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16638. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16638
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16639. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16639
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)一つはずし.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16640. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16640
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16641. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16641
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16642. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16642
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16643. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16643
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16644. Ni, A798, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16644
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)defects極めて少ない.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16645. Ni, A956, RTNS-II, 350℃, S, BF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16645
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A956. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ケンマ不良暗視野不可能.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16646. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16646
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16647. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, BF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16647
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16648. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16648
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16649. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16649
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16650. Ni, A798, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16650
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A798. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ボイドいるがその数極めて少ない.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16651. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16651
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16652. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16652
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16653. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16653
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16654. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16654
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16655. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16655
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16656. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16656
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16657. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16657
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)dislocationそば.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16658. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16658
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16659. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16659
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16660. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16660
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16661. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16661
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16662. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16662
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16663. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16663
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16664. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16664
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16665. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16665
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16666. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16666
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16667. Ni, A794, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16667
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16668. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16668
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミでてくる.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16669. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16669
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16670. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16670
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16671. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16671
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16672. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16672
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16673. Ni, A-4, 400℃, 900000000000000000, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-16673
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A-4. (照射温度)400℃. (照射量)900000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ボイドらしいもの見つからず.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20879. Fe, A204, HVEM, BF, 80K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20879
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20880. Fe, A204, HVEM, BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20880
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20881. Fe, A204, HVEM, ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20881
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20882. Fe, A204, HVEM, BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20882
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20883. Fe, A204, HVEM, DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20883
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20884. Fe, A204, HVEM, ED., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20884
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20885. Fe, A204, HVEM, DF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20885
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)5min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20886. Fe, A204, HVEM, BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20886
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)1min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-20887. Fe, A204, HVEM, BF., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-20887
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A204. (照射条件)HVEM. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)1min　e-　irr.

日付: [1987年7月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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