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義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37401. Al, U089, RTNS-II, 90　Hi, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37401
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)U089. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90　Hi. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37402. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37402
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)D3. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37403. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37403
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37404. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37404
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37405. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37405
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　（2）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37406. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37406
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37407. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37407
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37408. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37408
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37409. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37409
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)他の視野　GB近く　上と同じｇ.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37410. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37410
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)D3. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37411. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37411
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37412. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37412
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37413. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37413
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37414. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37414
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37415. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37415
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37416. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37416
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)200.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37417. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37417
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37418. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37418
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37419. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37419
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37420. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37420
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37564. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37564
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　-5.0赤2（180）. 日付元記載「10/26」.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37565. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37565
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37566. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37566
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37567. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37567
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37568. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37568
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37569. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37569
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37570. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37570
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37571. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37571
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37572. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37572
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　-15.0　　0.0.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37573. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37573
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37574. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37574
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37575. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37575
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37576. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37576
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37577. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37577
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37578. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37578
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37579. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37579
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37580. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37580
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)αの.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37581. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37581
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37582. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37582
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　-1.0黒0（200）.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37583. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37583
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37584. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37584
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37585. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37585
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37586. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37586
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37587. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37587
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37588. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37588
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37589. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37589
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37590. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37590
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37591. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37591
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37592. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988年10月26日.]

 アイテム
資料番号: L-37592
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ（0.0赤1（160）.

日付: [1988年10月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37593. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988年10月26日.]

 アイテム
資料番号: L-37593
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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