メインコンテンツへスキップ

義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88575. Cu-0.3Ni, T42, RASREF, ED., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88575
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)RASREF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88577. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88577
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)失敗. 日付元記載「7/10 (Sat.)」. 実験者元記載「Y Hayashi」.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88578. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88578
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88579. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88579
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88580. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88580
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88581. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88581
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88582. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88582
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88583. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88583
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88584. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88584
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88585. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88585
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88586. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88586
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88587. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88587
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88588. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88588
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)over　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88589. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Under focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88590. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88590
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88591. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88591
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88592. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88592
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)90の更に右側.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88593. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88593
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)90の更に右側.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88594. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88594
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88595. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88595
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88596. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88596
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88597. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88597
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88598. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88598
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88599. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88599
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over　focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88600. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88600
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under focus.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88601. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88601
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88602. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年]7/10 (Sat.).

 アイテム
資料番号: L-88602
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/10 (Sat.).
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88603. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88603
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)実験者元記載「Y Hayashi」.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88604. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88604
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88605. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88605
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88606. Ni, T42, He Ion照射, Ed., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88606
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)Ed.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88607. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88607
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88608. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88608
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88609. Ni, T42, He Ion照射, DF, 50K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88609
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88610. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88610
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88611. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88611
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88612. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88612
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　3青22（250）.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88613. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88613
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Just　focus　　α.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88614. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88614
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 3　focus　α.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88615. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88615
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 3　focus　α.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88616. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88616
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88617. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88617
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88618. Ni, T42, He Ion照射, ED., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88618
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88619. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88619
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　6青24（210）.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88620. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88620
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88621. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88621
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88622. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88622
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88623. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88623
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)失敗.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88624. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88624
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)失敗.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88625. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

 アイテム
資料番号: L-88625
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ