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義家, 敏正, 1948-

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63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89562. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89562
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-15赤12（240）.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89563. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89563
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89564. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89564
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89565. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, ED., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89565
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89566. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89566
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　同上.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89567. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89567
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89568. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89568
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　同上.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89569. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89569
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89570. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89570
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89571. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, ED., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89571
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89572. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89572
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89573. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89573
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89574. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89574
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別の視野.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89575. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89575
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-27黒18（340）. 日付元記載「10/1」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89576. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89576
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89577. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89577
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-30黒6（180）.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89578. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89578
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89579. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89579
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89580. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, ED., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89580
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89581. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89581
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89582. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89582
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89583. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89583
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89584. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89584
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D.

(備考)失敗.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89619. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89619
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「10/3」.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89620. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89620
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89621. Cu, T06, LAMPF, 3B, BF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89621
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89622. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89622
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89623. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89623
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.G.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89624. Cu, T06, LAMPF, 3B, BF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89624
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.G.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89625. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89625
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.G.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89626. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89626
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.G.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89627. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89627
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89628. Cu, T06, LAMPF, 3B, BF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89628
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)厚い.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89629. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89629
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89630. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89630
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「10/3」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89631. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89631
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89632. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89632
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89633. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89633
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)B.G. ＆ disl.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89634. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 50K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89634
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)Disl.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89635. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89635
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)Disl.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89636. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89636
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89637. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89637
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89638. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89638
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89639. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89639
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89640. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89640
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89641. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89641
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89642. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89642
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89643. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 30K., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89643
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)Area A1.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89644. Cu, T08, LAMPF, 7D, ED., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89644
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89645. Cu, T08, LAMPF, 7D, ED., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89645
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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