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義家, 敏正, 1948-

 個人

関係者用

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38095. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38095
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38096. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38096
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)loopいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38097. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38097
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)loopいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38098. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38098
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)loopいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38099. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38099
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)loopいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38100. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38100
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)loopいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38101. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38101
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)loopいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38102. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38102
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)loopいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38103. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38103
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)上とは別の場所.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38104. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38104
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)上とは別の場所.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38105. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38105
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38106. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38106
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38107. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38107
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38108. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38108
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38109. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38109
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38110. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38110
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38111. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38111
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38112. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38112
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38113. Cu-2Ge, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38113
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38114. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38114
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38115. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38115
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38116. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38116
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38117. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38117
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)voidいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38118. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38118
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38119. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38119
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「10/31」.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38120. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, BF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38120
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38121. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38121
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38122. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38122
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38123. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, BF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38123
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38124. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38124
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38125. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38125
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38126. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38126
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)逆隣.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38127. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38127
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38128. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38128
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38129. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38129
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38130. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38130
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38131. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, ED., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38131
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上同じGrain.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38132. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, BF., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38132
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38133. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38133
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38134. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38134
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38135. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38135
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38136. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, BF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38136
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38137. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38137
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38138. Cu-2Sn, JMTRcontrolled, ED., [1988年]10/31.

 アイテム
資料番号: L-38138
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年]10/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38139. Cu-2Sn, JMTRuncontrolled, DF, 10K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38139
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38140. Cu-2Sn, JMTRuncontrolled, BF, 10K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38140
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38141. Cu-2Sn, JMTRuncontrolled, BF, 10K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38141
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)隣.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38142. Cu-2Sn, JMTRuncontrolled, BF, 10K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38142
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)さらに隣.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38143. Cu-2Sn, JMTRuncontrolled, DF, 10K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38143
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38144. Cu-2Sn, JMTRuncontrolled, DF, 10K., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38144
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

追加の絞り込み:

主題
電子顕微鏡写真 Electron micrographs 63352
北海道札幌市北区北１４条西９丁目 42464
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series 38363
電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series 24988
アメリカ カリフォルニア州 リバモア 24066
ニッケル 11193
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1987-1988 昭和62年度 10147
銅 7814
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1986-1987 昭和61年度 7250
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1994-1995 平成6年度 7081
金 6400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1992-1993 平成4年度 5848
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1993-1994 平成5年度 5620
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1988-1989 昭和63年度 5428
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1989-1990 平成元年度 5246
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1990-1991 平成2年度 4294
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1985-1986 昭和60年度 3966
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1995-1996 平成7年度 3703
銅合金 2962
銀 2835
ステンレス鋼 2785
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度 2483
鉄 2479
ニッケル合金 2219
バナジウム 1948
鉄合金 1400
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1996-1997 平成8年度 1174
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1984-1985 昭和59年度 769
共同研究実施年度 Year of joint research projects::1997-1998 平成9年度 357
ムライト 247
アメリカ ワシントン州 ハンフォード 242
モリブデン 225
アルミニウム 129
ゲルマニウム 85
ノート 63
材料試験 63
記録ノート Notebooks 63
電子顕微鏡 63
東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設 62
資料利用例（論文等掲載元データ登録分） Micrographs published in papers (selelcted) 55
炭化珪素 54
記録ノート Notebooks::Lシリーズ L series 37
記録ノート Notebooks::Oシリーズ O series 25
珪素 6
Collection 1
アルミニウム合金 1
写真 1
原子炉材料 1
格子欠陥 1
結晶構造 1
金属材料 1
金属複合材料 1

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